testersを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 59件
To prevent increase in test time accompanying scale enlargement of a circuit due to realizing individual test designs in a plurality of function circuit blocks (DRAM, logic, or the like) mounted on an LSI formed into one chip and sequentially testing them by using a plurality of testers.例文帳に追加
１チップ化されたＬＳＩに搭載された複数の機能回路ブロック（ＤＲＡＭ，ロジック等）には個別のテスト設計が実現され、テスタを使い分けて順次テストしていたため、回路の規模化に伴ってテスト時間が増大する。 - 特許庁
To provide a low-cost equipment operation support system supporting an interlock test of a sequence circuit of electric equipment, wherein a plurality of testers is not required to perform construction work of a trial condition on each target site electric test side.例文帳に追加
電気機器のシーケンス回路のインターロック試験を支援するシステムとして、安価なシステムで尚且つ、複数の試験員が各対象現場電気試験側で模擬条件の構築作業を行う必要がなくなる機器操作支援システムを提供する。 - 特許庁
To provide a test handler which can easily correspond to reduction in part replacement period and various types of testers, and to decrease the production cost by markedly reducing the number of replaced parts in accordance with the conversion of semiconductor element to be tested.例文帳に追加
被検査半導体素子の変換に従って交替される部品の数を著しく低減して生産コストの節減、部品交替時間の短縮及び多様なテスタータイプに容易に対応し得るテストハンドラーを提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a test handler which can easily cope with reduction in part replacement period and various types of testers, and to decrease production cost by markedly reducing the number of parts replaced in accordance with the conversion of a semiconductor element to be tested.例文帳に追加
被検査半導体素子の変換に従って交替される部品の数を著しく低減して生産コストの節減、部品交替時間の短縮及び多様なテスタータイプに容易に対応し得るテストハンドラーを提供することを目的とする。 - 特許庁
If a semiconductor integrated circuit 3 under test has a less required number of terminals for tests, a plurality of testers corresponding to the semiconductor integrated circuit 3 under test one to one are used for testing a plurality of semiconductor integrated circuits 3 at once.例文帳に追加
試験対象となる半導体集積回路の、試験で必要とされる端子が少なかった場合に、半導体集積回路と一対一に対応づけられた複数の試験装置を用いて、複数の半導体集積回路を同時に試験する。 - 特許庁
The electric field quality monitoring system includes a monitoring control center S for monitoring the electric field quality for mobile communication and testers A, arranged in the coverage area of the mobile communication, each measuring the electric field quality, in response to a command from the monitoring control center S and transmitting the measured result to the monitoring control center S.例文帳に追加
移動体通信の電界品質に関する監視を行う監視制御装置Ｓ、移動体通信のカバー領域に配置され、監視制御装置Ｓからの指令に応じて電界品質に関する測定を行い、測定結果を監視制御装置Ｓに送信する測定機Ａとを備える。 - 特許庁
To provide a distortion measuring method and a system which makes possible, automatization of distortion tests, elimination of skilled testers, stable and fair tests because of quantification of criterion, and distortion tests of gradually curved mirrors (complex curvature mirror) which was conventionally difficult.例文帳に追加
歪み検査の自動化が可能となり、熟練した検査者が不要となり、また、判定基準が定量化されるため、安定かつ公平な検査が可能となり、そして、従来困難とされた徐変曲面ミラー(複合曲率ミラー)の歪み検査が可能となる歪み測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a multiple torsional fatigue tester enabling the torsional test of a plurality of test pieces by one test to enhance the efficiency of a torsional fatigue test and capable of achieving the reduction of an arranging space and cost reduction as compared with a conventional case arranging a plurality of torsional fatigue testers.例文帳に追加
１度の試験により複数個の供試体のねじり疲労試験が可能で、ねじり疲労試験の能率を向上させ、かつ、従来のねじり疲労試験機を複数台設置する場合に比して設置スペースの削減およびコストの低減を達成することのできる多連ねじり疲労試験機を提供する。 - 特許庁
The LSI tester and the test system for testing respective LSIs formed on a wafer is characterized by that the LSI tester is structured so as to forecast and calculate an ending time of measurement of all of the LSIs in real time every time the respective LSI tests are ended, and that the plurality of the LSI testers are connected by a network.例文帳に追加
ウェハ上に形成されている個々のＬＳＩのテストを行うＬＳＩテスタおよびテストシステムであって、全てのＬＳＩの測定が終了する時刻を個々のＬＳＩのテストが終了するごとにリアルタイムに予測算出するように構成されたＬＳＩテスタおよびこれら複数のＬＳＩテスタをネットワークで接続したことを特徴とするもの。 - 特許庁
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