「testing technique」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To solve the problem that a testing circuit in a chip applied by a conventional test facilitation designing technique must inspect whether an input/ output circuit for outputting a signal to an external terminal or capturing a signal from an external terminal is normally operated or not by using a circuit tester.例文帳に追加

従来のテスト容易化設計技術を適用してチップ内にテスト回路の構成では、外部端子へ信号を出力したり外部からの信号を取り込む入出力回路が正常に動作するか否かの検査はテスタを用いて行なわざるを得ない。 - 特許庁

To provide a generating method and the like generating both or either test programs and/or test pattern programs used in each of plurality of semi-conductor testing devices of different programming languages, in which processing lines are simple and vainness is removed, without artificial technique.例文帳に追加

プログラム言語が異なる複数の半導体試験装置のそれぞれで用いるテストプログラム及びテストパタンプログラムのいずれか又は両者を生成するための生成方法等であって、人為的な手法ではなく、処理工程がシンプルで無駄を取り除いた生成方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a high-frequency low-power circuit technique which achieves with low consuming powers the necessary performances for respective circuit modules, and deals with the contractions of their design terms and testing times and the variations of their manufacturing processes, in an integrated circuit apparatus formed out of a plurality of CMOS circuit modules.例文帳に追加

複数のＣＭＯＳ回路モジュールで構成される半導体集積回路装置において、各回路モジュールが必要な性能を低消費電力で達成し、設計期間の短縮、テスト時間の短縮およびプロセス製造ばらつきへの対応を可能とする高性能低電力回路技術を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that a measuring instrument testing a feeding system supplying electric power to a power receiving device by using PoE (Power over Ethernet(R)) technique can neither specify which pair of communication lines are used by the feeding system to supply the electric power nor confirm state transition of a fed voltage after the feeding system is connected.例文帳に追加

ＰｏＥ技術を用いて受電装置に電力を供給する給電装置を試験する測定器において、給電装置がどの通信線対を用いて給電するかを特定することができず、かつ給電装置が接続されてからの給電電圧の状態推移を確認することができなかったという課題を解決する。 - 特許庁

Characteristic configuration technique to be constituted by passing a test procedure manual creating means 4 to create a test procedure manual 5 to indicate test procedures about a 'processing function A', a 'processing function B' by inputting function pattern tables 2', 3 to express the 'processing function A', the 'processing function B', etc., described in program specifications 1 of a testing object by standardized patterns is adopted.例文帳に追加

試験対象物のプログラム設計書１に記載された［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］などを、標準化したパターンで現した機能パターン表２’，３が入力されることで、当該［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］についての試験手順を示す試験手順書５を作成する試験手順書作成手段４を経てなる特徴的構成手法の採用。 - 特許庁

In a technique for testing a semiconductor device 1 provided with a memory circuit block 28, the self-diagnosis circuit 34, and other circuit blocks (a logic circuit block 20, an analogue circuit block 24 and the like), at least supply of a power source voltage and an electric signal to the memory circuit block 28 and the self-diagnosis circuit 34 is controlled independently of supply of them to other circuit blocks.例文帳に追加

メモリ回路ブロック２８と自己診断回路３４、及びその他の回路ブロック（ロジック回路ブロック２０、アナログ回路ブロック２４等）を備えた半導体装置１をテストする手法において、各回路ブロックへの電源電圧及び電気信号の供給に関し、少なくともメモリ回路ブロック２８と自己診断回路３４に対する供給と、その他の回路ブロックに対する供給とを個別に制御する。 - 特許庁