zerothを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 61件
That is, light transmittance of the amplitude adjusting part 22D is designed in advance so that amplitude of the zeroth order diffraction component becomes an appropriate value, a DC component generated in a space light modulator 18 during reproduction becomes appropriate amplitude by attenuating the amplitude to a predetermined value.例文帳に追加
即ち、振幅調整部２２Ｄの光透過率は、０次の回折成分の振幅が適正な値となるように予め設計されており、再生時に空間光変調器１８で生成された直流成分は、その振幅が所定値まで減衰されて適正な振幅となる。 - 特許庁
Four function units are sliced by bit, and four zeroth bit parts 100, 200, 300 and 400 for processing data of a first bit part 500 of a register file 5 are collectively disposed, in the parallel processing microprocessor provided with 4 function units capable of processing 4 commands simultaneously.例文帳に追加
４つの命令を同時に処理できる４つの機能ユニットを備えた並列処理マイクロプロセッサにおいて、４つの機能ユニットをビットごとにスライスし、レジスタファイル５の第１ビット部５００のデータを処理する４つの第０ビット部１００，２００，３００，４００をまとめて配置する。 - 特許庁
A size of the pixels in the array and the predetermined pattern are selected such that the liquid crystal polymer film forms a phase hologram for diffracting light polarized parallel to the common plane and a zeroth order diffraction grating for light polarized perpendicular to the common plane.例文帳に追加
アレイ内のピクセルのサイズおよび予め決められたパターンは、液晶重合体膜が、前記共通面に平行に偏光された回折光に対しては位相ホログラムを形成し、また、前記共通面に直角に偏光された光に対しては第ゼロ次数回折格子を形成するように選択される。 - 特許庁
And a diffraction element 12 has a lattice plane 12a having periodic recesses and projections, and reflects and diffracts the laser beam emitted from the light source 11, divides it into three beams composed of a main beam (zeroth order light) and a pair of sub-beams (+first order light and -first order light) and outputs them to a polarizing beam splitter 13.例文帳に追加
回折素子１２は、周期的に凹凸を繰り返す格子面１２ａを有し、光源１１から出射されるレーザ光を反射／回折して、主ビーム（０次光）と一対の副ビーム（＋１次光と−１次光）とから成る３つのビームに分離し、偏光ビームスプリッタ１３に出力する。 - 特許庁
A grating 45 which prevents zeroth order light from being generated by setting groove depth to λ/4 and which is set to pitch to prevent ± first or higher order diffracted light from returning to the reflected light condenser lens is arranged between the lens and the reflector including an optical axis with the grating apart from the reflector.例文帳に追加
レンズと反射板の間に、溝深さをλ／４として０次光を発生させないようにし、かつ±１次光以上の回折光を反射光集光レンズに戻さないようなピッチに設定したグレーティング素子４５を、反射板から離した状態で光軸を含む形で配置する。 - 特許庁
A zeroth-order PLL circuit 102 outputs a control signal for setting an oscillation frequency range of the reference signal based upon the phase difference of the timing component, and a primary PLL circuit 103 outputs a control signal for controlling the phase of the reference signal based upon the phase difference of the timing component.例文帳に追加
０次ＰＬＬ回路１０２はタイミング成分の位相差に基づき基準信号の発振周波数範囲を設定するための制御信号を出力し、１次ＰＬＬ回路１０３はタイミング成分の位相差に基づき基準信号の位相を制御するための制御信号を出力する。 - 特許庁
Disclosed is the objective lens 34 formed of plastic which is used for an optical pickup 3 for recording and reproducing an optical disk, wherein a tertiary order coma aberration quantity caused when the objective lens is tilted satisfies a prescribed relational expression where a distance in the thickness direction from the zeroth layer to nth layer being the maximum cover layer thickness is used as a parameter.例文帳に追加
光ディスク記録再生用光ピックアップ３に用いられるプラスチック製の対物レンズ３４において、当該対物レンズを傾斜させたときに発生する３次コマ収差量を、カバー層厚さが最大とされる第０層から第ｎ層までの厚さ方向の距離をパラメータとする所定の関係式を満足させる。 - 特許庁
Measuring devices 25 are connected electrically to the battery 5, and cell voltages V1-V10 of the first to tenth cells SL1-SL10 are measured by the zeroth to tenth probes P0-P10, and a current Ib in wiring 13 is measured by an ammeter 26, and the results are input from each measuring device 25 into a data processing device 28.例文帳に追加
また、バッテリ５には、測定器２５が電気的に接続され、第０〜第１０プローブＰ０〜Ｐ１０にて第１〜第１０セルＳＬ１〜ＳＬ１０のセル電圧Ｖ１〜Ｖ１０が測定され、電流計２６から配線１３の電流Ｉｂが測定され、それぞれ測定器２５からデータ処理装置２８に入力される。 - 特許庁
Emitted light from a semiconductor laser 1 is divided into three lights of zeroth-order light being a main beam and ±1st-order diffraction light which is a sub beam by a diffraction optical device 3, a light-condensing spot of the main beam is focused on the disk 7, and light-condensing spots of two sub beams are defocused slightly in the reverse direction each other on the disk 7.例文帳に追加
半導体レーザ１からの出射光を回折光学素子３によりメインビームである０次光、サブビームである±１次回折光の３つの光に分割し、メインビームの集光スポットはディスク７上に焦点を結ばせ、２つのサブビームの集光スポットはディスク７上で互いに逆向きに僅かにデフォーカスさせる。 - 特許庁
Based on an expected value list inputted from a Viterbi decoding circuit 111, an asymmetry detector 113 detects difference between a signal level E8 of an eighth expected value (8) and a signal level E4 of a central expected value (4) and the difference between the signal level E4 for the central expected value (4) and a zeroth expected value (0) signal level E0.例文帳に追加
上記アシンメトリ検出回路１１３は、ビタビ復号回路１１１から入力される期待値リストをもとに、８番目の期待値（８）の信号レベルＥ８と中央の期待値（４）の信号レベルＥ４の差と、中央の期待値（４）の信号レベルＥ４と０番目の期待値（０）の信号レベルＥ０の差を検出する。 - 特許庁
To detect defects in a minute wiring pattern formed on a sample by improving the contrast of an optical image of the sample formed by the interference between the zeroth and higher-order diffracted light of reflected light arising from illuminating light reflected by the sample surface, in a defects detecting optical system which detects defects in a pattern formed on the sample surface.例文帳に追加
試料表面に形成したパターンの欠陥を検出する欠陥検出光学系において、照明光により試料表面で反射した反射光の０次光と高次回折光の干渉により形成される試料の光学像のコントラストを向上させることにより、試料上に形成された微細な配線パターンの欠陥を感度良く検出する。 - 特許庁
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