分解検査の英語

分解能に優れ、かつ検査効率の高い基板検査装置およびこれを備えた基板検査システム並びに基板検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection device superior in resolution and having high inspection efficiency, a substrate inspection system employing it and a substrate inspection method. - 特許庁

検査に要する日数を短縮できるようにした熱分解炉チューブの検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection method of pyrolysis furnace tubes capable of shortening the number of days required for inspection. - 特許庁

サブミクロンの分解能と高速での検査が可能な基板検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection apparatus by which an inspection can be performed with submicron resolution and at high speed. - 特許庁

高速且つ高分解能での検査が可能な電子ビーム欠陥検査装置を実現。例文帳に追加

To realize an electron beam defect inspection device enabling the inspection of flaw at a high speed with high resolving power. - 特許庁

検査対象物を分解あるいは移動することなくより安価に欠陥を検査することができる赤外線映像検査装置である。例文帳に追加

To provide an infrared image inspection device inexpensively inspect a defect without disassebling or moving an inspection object. - 特許庁

検査対象の部分領域ごとに異なる分解能で検査することが可能なＸ線検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray inspection device capable of inspecting with a different resolution per each partial region to be examined. - 特許庁

コーティング検査装置１０は、検査区域ごとに、色分解された複数の画像のいずれかを選択して検査してもよい。例文帳に追加

The device 10 may select and inspect any one of these color-separated images by each inspection region. - 特許庁

また、導通検査が不合格の半導体装置１Ａは分解工程ｄにおいて分解され、その後の検査で不良原因が明らかになる。例文帳に追加

Further, a semiconductor device 1A which does not have passed the continuity inspection is disassemble in the disassembling step (d) and the cause of a defect is found through subsequent inspection. - 特許庁