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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 分解検査の意味・解説 > 分解検査に関連した英語例文

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分解検査の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 238



例文

分解炉チューブの検査方法例文帳に追加

INSPECTION METHOD OF PYROLYSIS FURNACE TUBE - 特許庁

その後、組立体は分解されて検査片上の皮膜が検査される。例文帳に追加

After that, the assembly is disassembled, and the coating on the inspection piece is inspected. - 特許庁

自動車のエンジンを分解検査してもらわなければならない.例文帳に追加

I must have the car's engine overhauled.  - 研究社 新英和中辞典

あなたは車のエンジンを分解検査するべきだ例文帳に追加

You should overhaul your car engine  - 日本語WordNet

例文

角度分解スキャトロメータおよび検査方法例文帳に追加

ANGULAR-DECOMPOSITION SCATTEROMETER AND INSPECTION METHOD - 特許庁


例文

分解機能X線顕微検査装置例文帳に追加

X-RAY MICROSCOPIC INSPECTION APPARATUS WITH HIGH-RESOLUTION CAPABILITY - 特許庁

試料を高い空間分解能で検査するための方法例文帳に追加

METHOD OF SAMPLE BY HIGH SPATIAL RESOLUTION - 特許庁

分解能に優れ、かつ検査効率の高い基板検査装置およびこれを備えた基板検査システム並びに基板検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection device superior in resolution and having high inspection efficiency, a substrate inspection system employing it and a substrate inspection method. - 特許庁

検査に要する日数を短縮できるようにした熱分解炉チューブの検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection method of pyrolysis furnace tubes capable of shortening the number of days required for inspection. - 特許庁

例文

サブミクロンの分解能と高速での検査が可能な基板検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection apparatus by which an inspection can be performed with submicron resolution and at high speed. - 特許庁

例文

高速且つ高分解能での検査が可能な電子ビーム欠陥検査装置を実現。例文帳に追加

To realize an electron beam defect inspection device enabling the inspection of flaw at a high speed with high resolving power. - 特許庁

検査対象物を分解あるいは移動することなくより安価に欠陥を検査することができる赤外線映像検査装置である。例文帳に追加

To provide an infrared image inspection device inexpensively inspect a defect without disassebling or moving an inspection object. - 特許庁

検査対象の部分領域ごとに異なる分解能で検査することが可能なX線検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray inspection device capable of inspecting with a different resolution per each partial region to be examined. - 特許庁

コーティング検査装置10は、検査区域ごとに、色分解された複数の画像のいずれかを選択して検査してもよい。例文帳に追加

The device 10 may select and inspect any one of these color-separated images by each inspection region. - 特許庁

また、導通検査が不合格の半導体装置1Aは分解工程dにおいて分解され、その後の検査で不良原因が明らかになる。例文帳に追加

Further, a semiconductor device 1A which does not have passed the continuity inspection is disassemble in the disassembling step (d) and the cause of a defect is found through subsequent inspection. - 特許庁

試料を高い空間分解能で検査するための方法および顕微鏡例文帳に追加

METHOD AND MICROSCOPE FOR HIGH SPATIAL RESOLUTION EXAMINATION OF SAMPLE - 特許庁

一つの画素にだけ流れる電流に基づいて画素の欠陥検査を可能とし、もって検査波形の分解能を高めて精度の高い検査を行うことのできる表示装置の検査方法及び検査装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an inspection method and an inspection device for a display device that enable a defect of pixels to be detected based on a current flowing to only one pixel and consequently enable the resolution of an inspection waveform to be increased to realize highly accurate inspection. - 特許庁

通常伝搬光による検査と滲出近接場光による検査を切り替えて実行できる光学検査において、滲出近接場光による高分解検査の際の、通常伝搬光によるノイズを有効に軽減し、高いS/N比で高分解検査を実現する。例文帳に追加

To realize high resolving power inspection at a high S/N ratio by effectively reducing the noise due to usual propagation light during high resolving power inspection due to discharged near field light in optical inspection performing the inspection due to the usual propagation light and the inspection due to the discharged near field light so as to change over them. - 特許庁

TVカメラ自体が有する画素分解能よりも高い分解能を有する映像を作成することにより、欠陥の視認性を向上させた検査画像を得構造物の検査装置及びその検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a structure inspection apparatus and inspection method therefor which provides an inspection image in which the visibility of a defect is improved by preparing a video image having a resolution higher than a pixel resolution that a TV camera itself has. - 特許庁

検査の手間を省き、且つ、アセンブリを分解することなく、しかも、検査結果の再現性を高めるようにした無端ベルト用エレメント検査方法及び検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an element inspection method and a device for an endless belt which saves a time and manpower for inspection does not require to disassemble an assembly and enhances the reproducibility of an inspection result. - 特許庁

分解能を持った電子線による検査と高スループットを持った光学検査との両方の検査に適合する反射型マスクおよびその製造方法、およびマスクパターン検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a reflective mask that is suited to both of an inspection by electron beams having high resolution and an optical inspection having high throughput, to provide a method of manufacturing the same, and to provide a mask pattern inspection method. - 特許庁

全身のPET検査が可能なPET装置において、被検体の一部の狭い範囲をPET検査する場合のポジトロン放出性核種の分布像の分解性能が高め、PET検査検査精度を高める。例文帳に追加

To heighten inspection accuracy of PET (Positron Emission Tomography) examination by heightening resolution performance of a distribution image of a positron emissive nuclide when performing PET examination in a narrow range of a part of a subject, in a PET device capable of performing PET examination of a whole body. - 特許庁

これによって、同じ検査波長を用いた場合であっても、従来のマスク検査装置に比べ、分解能を向上することができる。例文帳に追加

The resolution is thereby enhanced compared with a conventional mask inspection device, even when using the same inspection wavelength. - 特許庁

亀裂検査システムの構築費用を減らし、映像データ処理速度の向上と検査システムの分解能を高める。例文帳に追加

To enhance a picture data processing speed and to enhance a resolution of an inspection system, and cutting down construction cost of crack inspection system. - 特許庁

回路基板の不良を、広い範囲で分解能高く検査することのできる基板検査装置及び方法を提案する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection device and its method capable of inspecting bad circuit substrate with high resolution in wide range. - 特許庁

測定の分解能を損うことなく、かつ、半導体装置でのチャージアップを低減させる検査装置および検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection apparatus and a method of inspection that do not degrade resolution of the measurement and that reduce charge up on a semiconductor device. - 特許庁

噴霧の濃度分布及び形状を高い分解能で測定する簡単な構成の噴霧検査装置及び噴霧検査方法を提供する。例文帳に追加

To obtain a spray inspection apparatus having a simple structure and a spray inspection method for measuring the density distribution and the shape of a spray at a high resolution. - 特許庁

組立て前の磁気ヘッドを、非破壊、非接触で、かつ、高い分解能をもって、全数検査可能なスピードで検査をする。例文帳に追加

To inspect a magnetic head before assembling nondestructively and in a non-contact manner with a high resolution and at such a speed as to permit 100% inspection. - 特許庁

検査の際に分解作業を行わなくても歯車の検査をすることができる歯車用超音波探触子の提供。例文帳に追加

To provide an ultrasonic probe for a gear capable of inspecting a gear even if disassembling work is not performed in an inspection. - 特許庁

X線検査装置において、高い空間分解能で、金属表面などの形状の検査を可能とする。例文帳に追加

To inspect the shape of a metal surface or the like at high spatial resolution in an X-ray inspection device. - 特許庁

検査手段における振動の発生を抑制し、高分解能での微細なパターンの検査を適切に行う。例文帳に追加

To suppress the generation of a vibration in an inspection means and to appropriately inspect a fine pattern with a high resolution. - 特許庁

車両検査ライン5は、検査対象の自動車の移動経路8に沿って、その入口3の側から順に、主として目視による検査を行なう第1の検査ステーション11と、測定機器による検査を行なう第2の検査ステーション12と、リフトを用いて下回りの分解、点検検査を行なう第3の検査ステーション13に区分されている。例文帳に追加

A vehicle inspection line 5 is divided into a first inspection station 11 for mainly executing a visual inspection, a second inspection station 12 for executing an inspection by a measuring instrument and a third inspection station 13 for executing decomposition, checks and inspections for a lower surrounding part by using a lift along a moving passage 8 of the automobile of the inspection object in the order from its entrance 3 side. - 特許庁

複数の視機能を検査可能な視機能検査装置であって、液晶ディスプレイ部1Bに対して第1映像を第1視力にて視機能検査ができる分解能で表示し、ドーム型スクリーン1Aに対して第2映像を第2視力にて視機能検査ができる分解能で表示する。例文帳に追加

Visual function testing equipment capable of testing a plurality of visual functions displays a first image on a liquid crystal display portion 1B, with a resolution capable of a visual function test performed with a first eyesight and displays a second image on a dome-shaped screen 1A, with a resolution capable of a visual function test performed with a second eyesight. - 特許庁

微小欠陥検査装置の光学性能及び光学的分解能を上げることなく、従来より高い分解能で検査対象物の微小欠陥を検出する(検査用の照射光の焦点径より微細な欠陥を検出する)微小欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a microdefect inspection apparatus for eliminating an enhancement of its optical performance and resolution and detecting microdefects on an inspected object at higher resolution (detecting the microdefects smaller than a focus diameter of an inspecting illumination light). - 特許庁

アレイ素子の相対位置を、高分解能で広範囲、かつ比較的安価に検査できるようにする。例文帳に追加

To inspect the relative positions of array elements with high resolution widely and relatively inexpensively. - 特許庁

較正固有分解モデルを使用した製造信頼性検査及びリソグラフィ・プロセス検証方法例文帳に追加

PRODUCTION RELIABILITY INSPECTION AND LITHOGRAPHY PROCESS VERIFICATION METHOD USING CALIBRATION INHERENT DECOMPOSITION MODEL - 特許庁

空間分解能を向上させたハルトマン方式の検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection apparatus in Hartmann method in which the spatial resolution is improved. - 特許庁

通常伝搬光による検査と滲出近接場光による検査を切り替えて行う光学検査において、滲出近接場光による検査の際に、通常伝搬光によるノイズを有効に軽減し、高いS/N比で高分解検査を実現する。例文帳に追加

To realize high resolving power inspection in a high S/N ratio by effectively reducing the noise due to usual propagation light during inspection due to discharged near field light in optical inspection performing the inspection due to the usual propagation light and the inspection due to the discharged near field light so as to change over them. - 特許庁

燃料電池スタック20の発電検査時に発生する電力を電気分解装置51に供給し、水の電気分解に利用する。例文帳に追加

Electric power generated in power generation inspection of a fuel cell stack 20 is supplied to the electrolyzer 51 and used in the electrolysis of water. - 特許庁

また、ペクチン分解酵素及び/又はペクチン分解酵素を放出する真菌を検出する花粉症の検査方法、及び、ペクチン分解酵素及び/又はペクチン分解酵素を放出する真菌に対する抗体を含む花粉症の検査用薬剤である。例文帳に追加

Additionally, the method for examining pollinosis by detecting the pectin-decomposing enzyme and/or fungus releasing the pectin-decomposing enzyme, and the drug for detecting pollinosis, containing an antibody against the pectin-decomposing enzyme and/or fungus, releasing the pectin-decomposing enzyme are provided. - 特許庁

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection apparatus for speeding up inspection with high resolution for a technique in inspecting defects, foreign materials, residues, and steps, etc., using electron beam for a pattern on a wafer in a manufacturing process for a semiconductor device. - 特許庁

デバイスの欠陥検査において、高操作性の観点からサイズ2〜2.5mm 角内の任意個所を試料移動させることなく、20〜30nm程度の像分解能で検査できるデバイスの欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for detecting defects in a device, capable of detecting an arbitrary part of 2.0-2.5 mm square at abort 20-30 nm image resolution, without having to move a sample from the viewpoint of high operability, in inspection of defects in a device. - 特許庁

電子ビームを用いたウェハ上パターンを検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspecting device that embodies high resolution and a fast inspection speed for a technique for inspecting a pattern on a wafer by using an electron beam. - 特許庁

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection device of a high resolution realizing the increase of inspection speed in a technology of inspecting defects of patterns, foreign matters, remnants, steps or the like on a wafer in the course of manufacturing process by electron beams. - 特許庁

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection device realizing high resolution and an increase in an inspection speed in a technology for inspecting a pattern defect, foreign matter, residue, a step and the like on a wafer in a production process of a semiconductor by an electron beam. - 特許庁

円盤状体について検査精度(分解能、検出能力)を維持したまま検査時間を短縮することができる検査方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for inspecting a disc-like body which can reduce the inspection time with maintaining an inspection accuracy (resolution, detecting ability) about the disc-like body. - 特許庁

一度の測定で短距離・高分解能および長距離・低分解能を両立させることができる光伝送路検査装置、光伝送システム、および、光伝送路検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an optical transmission line inspection apparatus, an optical transmission system, and an optical transmission line inspection method capable of successfully making a short-distance high resolution compatible with a long-distance low resolution in a single measurement. - 特許庁

必用に応じ、分解セルにて分解した部品を洗浄セルで直ちに洗浄し、さらに検査セルで部品検査を行い、良品を組立セルで再組立を行う。例文帳に追加

As the need arises, parts dismantled by a dismantling cell are immediately washed by a washing cell, and checked by a checking cell, and then good parts are reassembled by an assembling cell. - 特許庁

繰り返しパターンを持つ被検査物を検査する際、撮像した画像から正常な繰り返しパターンを除去するために、被検査物の繰り返し周期と撮像画像の分解能が整数比となるような分解能で撮像を行う。例文帳に追加

When an object to be inspected having the repeated pattern is inspected, imaging is performed with resolving power, wherein the repeated cycle of the object to be inspected and the resolving power of a taken image become an integral ratio, in order to remove a normal repeated pattern from the taken image. - 特許庁

例文

燃料電池を分解することなく、燃料電池の内部における液体燃料、空気および/または水の漏出を検査することができる燃料電池の検査方法、および、そのような燃料電池の検査方法が採用される燃料電池の検査装置を、提供すること。例文帳に追加

To provide a fuel battery inspection method which can inspect liquid fuel and air and/or water leakage inside a fuel battery without decomposing the fuel battery, and a fuel battery inspection apparatus for which such a fuel battery inspection method is adopted. - 特許庁

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