device under testとは 意味・読み方・使い方

To provide a semiconductor test device capable of improving the throughput of DUT (device under test) inspection.例文帳に追加

ＤＵＴ検査のスループットを改善できる半導体検査装置を提供すること。 - 特許庁

DEVICE MEASURING APPARATUS AND SUPPRESSION METHOD FOR TEMPERATURE CHANGE OF DEVICE UNDER TEST例文帳に追加

デバイス測定装置及び被測定デバイスの温度変化抑制方法 - 特許庁

VIRTUAL TEST SYSTEM CORRESPONDING TO SIMULTANEOUS TEST OF A PLURALITY OF DEVICE UNDER-TESTS (DUT)例文帳に追加

複数のデバイスアンダーテスト（ＤＵＴ）の同時テストに対応したヴァーチャルテストシステム - 特許庁

The tester has an analog test portion which makes an analog test of each device under test and outputs a retiming clock, and a digital test portion which performs retiming by the retiming clock of this analog test portion and makes a digital test of the device under test.例文帳に追加

本装置は、被試験対象のアナログ試験を行い、リタイミングクロックを出力するアナログ試験部と、このアナログ試験部のリタイミングクロックによりリタイミングを行うと共に、被試験対象のデジタル試験を行うデジタル試験部とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a sample cooling device, a hardness test device, and a hardness test method for implementing a hardness test under a stable low temperature environment.例文帳に追加

安定した低温環境で硬さ試験を実施することができる試料冷却装置、硬さ試験機及び硬さ試験方法を提供すること。 - 特許庁

To improve the efficiency in a device test and reduce test costs per DUT (Device Under Test) by making effective use of limited hardware resources.例文帳に追加

限られたハードウェア資源を有効利用し、デバイス試験の効率を上げ、ＤＵＴ当たりの試験コストを低減する。 - 特許庁

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board.例文帳に追加

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。 - 特許庁

To provide test equipment which can input test signal to both first and second terminals of a device under test, further can prevent mixing of frequency component in signals output from plural devices under test so as to properly test these plural devices under test.例文帳に追加

被試験装置の第１の端子及び第２の端子の両方に試験信号を入力して試験を行うことができ、複数の被試験装置の出力信号の周波数成分が混合されることを防ぎ、複数の被試験装置を正しく試験することができる試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁