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へいばんそくりょうの英語
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「へいばんそくりょう」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 2318件
平板測量装置例文帳に追加
FLAT PLATE SURVEYING DEVICE - 特許庁
平板測量という,三脚の上にのせた図板・指方器・ポール・巻尺を用いた測量法例文帳に追加
a measuring instrument using a drafting board on a tripod, an alidad, a pole and a tape line, called plane table発音を聞く - EDR日英対訳辞書
容器本体1の両側板25は、底板部9の両側辺縁から折り曲げた外面側板部11と、両外面側板部11の上側縁12から両外面側板部11の内側に折り曲げた両内面側板部13とにて形成する。例文帳に追加
Both side plates 25 of the container body 1 are formed of external side plates 11 folded from both side rims of a base plate 9 and both internal side plates 13 folded inside the external side plates 11 from upper side rims 12 of the external side plates 11. - 特許庁
地盤・構造物変形量予測方法およびプログラム例文帳に追加
METHOD OF PREDICTING AMOUNT OF DEFORMATION OF GROUND AND STRUCTURE AND PROGRAM - 特許庁
(5) 規則の見出しにおける手数料の番号への言及は,附則に指定する当該手数料の番号への言及である。例文帳に追加
(5) A reference in the heading to a rule to the number of a fee is a reference to the number of that fee as specified in the Schedule.発音を聞く - 特許庁
回路基板への端子接続の良、不良を簡単な設備で迅速に試験する。例文帳に追加
To rapidly test defects of terminal connection to a circuit board, using a simple structure. - 特許庁
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「へいばんそくりょう」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 2318件
接触時間による地盤材料の変形特性の測定技術例文帳に追加
TECHNIQUE FOR MEASURING DEFORMATION CHARACTERISTIC OF GROUND MATERIAL BASED ON CONTACT TIME - 特許庁
バンパー2は、車両1の側面1aに配置された第1側壁20と、前記第1側壁20の後方へ配置された第2側壁21と、前記第2側壁21から車両1の内方へ延長された第3側壁22とを備える。例文帳に追加
A bumper 2 includes a first sidewall 20 arranged on the side surface 1a of a vehicle 1, a second sidewall 21 arranged on the rear side of the first sidewall 20, and the third sidewall 22 extended from the second sidewall 21 to the inner side of the vehicle 1. - 特許庁
計測手段14は、前記荷重値を測定する際に、前記板ばねの変位量を計測する。例文帳に追加
The measuring means 14 measures the displacement quantity of the leaf spring 12 when the load value is measured. - 特許庁
基板の変形量を正確に且つ簡便に計測できるようにする。例文帳に追加
To measure deformation quantity of a substrate accurately and conveniently. - 特許庁
地盤材料の変形特性を現地で正確に,かつ容易に測定する。例文帳に追加
To accurately and easily measure the deformation characteristic of a ground material on site. - 特許庁
背面側に縦型定盤を設置した測定装置において、被測定基板の両面の平坦度を測定できる基板の平坦度測定装置を提供する。例文帳に追加
To provide a flatness measuring device of a substrate capable of measuring flatness of both surfaces of the substrate to be measured, concerning a measuring device having a vertical surface plate installed on the back side. - 特許庁
イオン量測定器は、ファラデーカップ15と可動式遮蔽板16からなる。例文帳に追加
The ion amount measuring instrument comprises a Faraday cup 15 and a movable shielding plate 16. - 特許庁
容器本体3の両側板25は、底板部9の両側辺縁7から折り曲げた外面側板部11と、両外面側板部11の上側縁12から両外面側板部11の内側に折り曲げた両内面側板部13とにて形成する。例文帳に追加
Both side boards 25 of a container main body 3 are formed of outer face side board sections 11 folded from both side section edges 7 of a bottom board section 9 and both inner face side board sections 13 folded from the upper side edges 12 of both outer face side board sections 11 to the insides of both outer face side board sections 11. - 特許庁
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