インサーキットテスタの英語

インサーキットテスタ使用時における基板反り矯正方法において、測定する電子パッケージの基板パターンに関わらない汎用的な基板反り方法を提供する。例文帳に追加

To provide a general-purpose substrate warping correction method not related to a substrate pattern of an electronic package to be measured. - 特許庁

インサーキットテスタ１４は、基板にプローブを接触させて基板の電気的特性を検出し、検出された基板の電気的特性を利用して基板の実装状態を検査する電気的特性検査を実施する。例文帳に追加

An in-circuit tester 14 performs electrical characteristic inspection by bringing a probe into contact with the substrate to detect the electrical characteristics of the substrate and inspecting the substrate for its mounting status by using the detected electrical characteristics of the substrate. - 特許庁

省スペース化が図れ、インサーキットテスタのピン接触用ランドを部品接続用ランドに接続するための配線の不要なランド構造およびそのランド構造を用いたハンダ付け方法を提供する。例文帳に追加

To provide a land structure for eliminating the need for wiring for connecting a land for pin contact of an in-circuit tester to a land for connecting components, while saving space, and to provide a soldering method using the land structure. - 特許庁

電子回路の実装状態の検査に使用する検査装置の簡素化を図るとともに、インサーキットテスタによらないＥＣＵ単体での検査対象回路の検査を実現する電子回路の検査方法を提供し、テストパッドの削減および省略を図ることによりＥＣＵの小型化を実現する。例文帳に追加

To provide a method for inspecting electronic circuit, simplifying an inspection apparatus to be used for inspection of an electronic circuit for a packaging state, and to achieve the inspection of a circuit to be inspected with a single ECU independent of an in-circuit tester, and thereby downsizing the ECU by reduction and omission of a test pad. - 特許庁

プリント基板２のオープン検査を表裏いずれかの面より行うインサーキットテスタ１において、プリント配線板と当該プリント配線板に搭載された基板部品２ｘとの擬似接触や基板部品２ｘのクラックなどを確実に検出する。例文帳に追加

To reliably detect a pseudo-contact between a print circuit board and a substrate part 2x mounted on the print circuit board, a crack in the substrate part 2x and the like in an in-circuit tester 1 performing an open test for a print substrate 2 either from the front or back side. - 特許庁

測定対象物との接触抵抗を測定でき、そのことによって、測定対象物との接触抵抗が正常の場合には、そのまま測定対象物の電気的特性の測定を行うことができる接触抵抗を測定することができるインサーキットテスタを提供する。例文帳に追加

To provide an in-circuit tester having a contact resistance measuring function which measures its contact resistance with respect to a measuring object, and measures an electrical property of the measuring object as it is, when the contact resistance with respect to the measuring object is judged normal by that measurement. - 特許庁

インサーキットテスタ１１は、測定対象物を測定する第１測定回路１７、電源ピン１３の接触抵抗を測定する第２測定回路２５、制御装置２４、及び、前記各回路の切り替えを行うリレー回路２３を備えている。例文帳に追加

The in-circuit tester 11 is equipped with a first measurement circuit 17 for measuring the measuring object, a second measurement circuit 25 for measuring the contact resistance of a power supply pin 13, a controller unit 24, and a relay circuit 23 for performing a changeover of the individual circuits. - 特許庁

インサーキットテスタによる電子回路基板上の素子の電気的特性の計測時に、基板上のチップ部品に生ずる歪みを容易にかつ正確に検出し、かかる基板の検査工程でチップ部品に割れが発生することを防止する。例文帳に追加

To protect a chip component against cracks in the inspection process of an electronic circuit board, where electrical characteristics of an element on the board are measured using an in-circuit tester by easily and accurately detecting strain occurring in the chip component on the board. - 特許庁