エレク試験の英語

ＬＳＩにおけるビアのエレクトロマイグレーション信頼性試験を簡単にかつ効率的に行なうエレクトロマイグレーション評価装置を提供することを主要な目的とする。例文帳に追加

To provide an electromigration evaluation device that allows simple and efficient electromigration reliability testing of a via in an LSI to be performed. - 特許庁

ピンエレクトロニクス部からＤＵＴに至る経路のリレーを半導体リレーのみにしても、半導体試験装置内部のパルス信号がＤＵＴ側に送出されることはなく、ＤＵＴを破損する恐れのない半導体試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a semiconductor tester that does not have the risk of damaging a DUT, since pulse signals within the semiconductor tester are prevented from being sent out to the DUT side, even if only semiconductor relays are used as relays on a route from a pin electronics part to the DUT. - 特許庁

半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。例文帳に追加

In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed. - 特許庁

ピンエレクトロニクスカードの測定データを格納するメモリ領域を増大させることなく制御ユニットに全ピンエレクトロニクスカードの測定データを収集するための処理時間を短縮できる半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing a processing time for collecting measurement data of all pin electronics cards into a control unit, without increasing the memory area in which the measurement data of the pin electronics cards are stored. - 特許庁

そして、この応力値を別途に行う引っ張り試験からの応力値と比較することにより、エレクトロマイグレーション耐性を見積もることが出来、配線の信頼性を定量的に見積もることが出来る。例文帳に追加

This stress value is compared with a stress value from a tension test conducted separately to estimate resistance to electromigration and estimate quantitatively the reliability of the wiring. - 特許庁

半導体試験装置の出力部を構成するピンエレクトロニクス７０内の回路の切換えを行うメカリレーを全て半導体リレー７５で構成する。例文帳に追加

Mechanical relays switching circuits in pin electronics 70 constituting the output part of the semiconductor test device are all composed of semiconductor relays 75. - 特許庁

半導体デバイス試験装置１００内のピンエレクトロニクス１０２ａにおいては、データ入出力信号ＤＱの読み取りをコンパレータ１７１で行う。例文帳に追加

In a pin electronics 102a within the semiconductor device test apparatus 100, the reading of the data input/output signal DQ is performed by a comparator 171. - 特許庁

１つのテスタピンに指定された条件で２つの出力を出力することができるピンエレクトロニクスカードを有する半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing device having a pin electronic card capable of outputting two outputs in a condition assigned in one tester pin. - 特許庁