超微構造観察の英語

超高真空中において試料に応力を印加しながらその表面構造の原子レベルの分解能でのその場観察を行うことができる超高真空走査型プローブ顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an ultrahigh vacuum scanning probe microscope capable of performing in situ observation with an atomic-level resolution of a surface structure, while applying a stress to a sample in ultrahigh vacuum. - 特許庁

例えば乳癌検診において見落とされがちな微小石灰化等の微小構造物を好適に観察することが可能な超音波診断装置等を提供すること。例文帳に追加

To provide an ultrasonic diagnostic apparatus or the like, which can suitably observe microstructures, such as microcalcification or the like which tends to be overlooked in cancer screening breast. - 特許庁

スペックルパタンの統計的性質を利用して画像の平滑化を行い、微小構造物を抽出することで、肝硬変の進行度をはじめ、均質な組織構造の中にある微小な異常病変を観察することが可能な解析アルゴリズムを具備した超音波診断装置を提供する。例文帳に追加

To provide an ultrasound diagnosis apparatus having an analysis algorithm capable of observing a fine abnormal lesion present in homogeneous tissue such as the a progress degree of cirrhosis by utilizing the statistical property of a speckle pattern, smoothing an image, and extracting a microstructure. - 特許庁

ＬＥＤチップに直接半導体超微粒子を内包した発光色変換部材を設けることにより、変換効率が優れ、高輝度の白色などの可視光に変換し、さらには紫外光がそのまま照射されて半導体発光装置を観察するものに害を及ぼさない構造とした半導体発光装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor light-emitting device of a structure which can have superior conversion efficiency, convert emission light to visible light, such as white color light having a high luminance, and prevent ultraviolet light from being radiated as it is and the observer of the device from being harmed by the ultraviolet light, by providing an emission light color converting member containing semiconductor ultrafine particles directly to an LED chip. - 特許庁

観察用と修正用とでプローブを兼用でき、次世代の超微細構造のフォトマスクを対象としても欠陥部の位置と形状の情報を取得する過程において正常部分を損傷してしまうようなことがなく、また、加工時にもプローブを傷めることなく所望の加工ができる装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device in which a probe can be used both for observation and correction and which can perform desired processing without injuring a normal portion, even if a next generation photomask having a ultrafine structure is used as an object, in a step of acquiring information about the position and feature of a defect, or without damaging the probe during processing. - 特許庁