供試ロットの英語

不良発生の原因や傾向をロット単位又はウェハ単位で容易に把握することができる試験結果表示装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device for displaying a test result, allowing the causes and the trend of the occurrence of defects to be easily recognized on a lot basis or a wafer basis. - 特許庁

複数のパイロット式電磁弁の各応答時間を自動的に測定することができる弁集合ブロックの試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test system capable of automatically measuring the respective response times for a plurality of pilot-type solenoid valves. - 特許庁

バーンイン試験を行う際に用いられる恒温層の炉内に異なるロットの半導体集積回路が配置されていても、作業者が各ロット毎の試験状況を容易に把握することができるとともに、試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method enabling an operator to easily grasp the test state of each lot even if a semiconductor integrated circuit of a different lot is arranged in a furnace of a thermostat used when performing a burn-in test, capable of shortening furthermore a time required for the test, and hereby capable of reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit. - 特許庁

少量多品種の半導体デバイスを試験する場合、ロットの切り替え作業を削減して、半導体デバイス試験装置の稼働率を向上を可能とする半導体デバイスの試験に関する技術を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a technique as to a test for a semiconductor device, capable of reducing lot switching work to enhance an operation rate of a semiconductor testing device, when testing the semiconductor devices of small lot multi-product. - 特許庁

短時間でインタフェースボードを試験することができ、かつ、スロットに格納される部材のアナログ特性に依存せず、適切な試験結果を得ることができるインタフェースボード試験装置及びインタフェースボード試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide an interface board testing device and an interface board testing method which can test an interface board in a short period of time, and obtain an appropriate test result independently of analog characteristics of a member stored in a slot. - 特許庁

打切り試験において、一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命水準を、試験データの解釈の違いを引き起こすことなく、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても試算できる方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of a truncated life test capable of simply and quickly trial calculating the life level of the testing object even an unskilled person without generation of discrepancy of interpretation from the undamaged time while a part of the testing object are still subjected to the test without being damaged with high reliability in the truncated life test. - 特許庁

データ取得時間を短時間に行い、必要な部分の判定が行われ正確なSHMOOプロットの結果を表示することが可能なIC試験装置及びIC試験方法の提供。例文帳に追加

To provide an IC testing device and an IC testing method capable of acquiring data in a short time, judging a necessary portion, and displaying the result of an accurate SHMOO plot. - 特許庁

簡単な構造でロット待機中にプローブ針を介してプローブカードの温度を保持することができ、そのときプローブ針を損傷しにくい、半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device for semiconductor device capable of maintaining the temperature of a probe card with a simple structure via a probe needle during a lot standby and preventing the probe needle from being easily damaged at that time, and to provide a testing method of semiconductor device. - 特許庁