供試体寸法の英語

筒状構造を有する固体試料の仕上がり寸法の計測や、管内面の表面に存在する微小な表面欠陥の検出などの手段を提供する。例文帳に追加

To provide a means for measuring the finish dimension of a solid sample having a cylindrical structure or detecting a minute surface defect present on the inner surface of a tube. - 特許庁

試料管の内径の寸法公差を小さく、またフィリングファクターを高くすることができ、必要によって、体積磁化率を分析対象試料の体積磁化率と同程度とすることができるような、高周波磁場を発生するための検出コイルを備えた核磁気共鳴装置用試料管、およびそのような試料管を製造するための有用な方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sample tube for a nuclear magnetic resonance apparatus with a detection coil for generating a high frequency magnetic field and a useful method for manufacturing the sample tube, in which a dimensional tolerance of an inner diameter of the sample tube can be reduced, a filling factor can be increased, and a volume susceptibility can be made comparable to the volume susceptibility of a sample to be analyzed if necessary. - 特許庁

ＲＦＩＤタグのスロット寸法の最適化を実行するためにＲＦＩＤタグを何種類も試作することなく、インピーダンス調整の際にＩＣチップの破損の恐れが少ない導電性物体や非導電性物体に関わらずに設置可能である新規なＲＦＩＤタグを提供すること。例文帳に追加

To provide a novel RFID tag that can be installed regardless of a conductive object or non-conductive object while reducing the risk of damaging an IC chip in the case of impedance adjustment, also without experimentally manufacturing many types of RFID tags for optimizing the slot dimension of the RFID tag. - 特許庁

半導体ウェハ上に高密度に集積されたチップデバイスの電気的特性の検査に使用する微小寸法のプローブを有する二重弾性機構のプローブカードにおいて、プローブ先端の位置ずれを小さくすることによって、被試験体であるチップデバイスの電極サイズの小さなものであっても使用できるプローブカードを提供する。例文帳に追加

To provide a probe card for using even a chip device having a small electrode size which is a test object, by reducing position deviation of a probe tip, concerning a probe card having a double elastic mechanism having a small-dimension probe used for inspection of an electric characteristic of chip devices integrated in high density on a semiconductor wafer. - 特許庁

半導体装置等の微少寸法（ＣＤ値）を計測するのに用いられる荷電粒子線装置において，試料への電子ビームのランディング角がばらつきことに起因するＣＤ値ばらつきを低減する方法，及び，装置間の電子ビームランディング角の差違に起因する機差を低減する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a technique that reduces dispersion of CD values, resulting from landing angle of electron beams to samples and a technique that reduces instrumental errors, resulting from difference in electron beam landing angle between devices, in a charged particle beam device used for measuring refined measures (CD value) of semiconductor devices and the like. - 特許庁