出力調整試験の英語

電源部から出力される電圧値を効率よく調整することができる半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing apparatus for efficiently adjusting the voltage values outputted from power supply sections. - 特許庁

各ドライバ３０からＤＵＴに対して試験パターンデータが出力されるタイミングは、個々に遅延調整部２０で校正される。例文帳に追加

Each timing when the test pattern data are outputted from each driver 30 to the DUTs, is calibrated individually by a delay adjustment part 20. - 特許庁

半導体集積回路内の記憶素子に読み出し動作の信号が送られてから、記憶素子から出力されたデータがレジスタに格納されるまでの時間を調整可能な組み込み自己試験回路及び試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a built-in self-testing circuit and testing method capable of adjusting a period of time from sending a read operation signal to storage elements in a semiconductor integrated circuit till storing data outputted from the storage elements in a register. - 特許庁

本発明は、タイミングメモリにアドレスが与えられ、タイミングメモリが出力するタイミングデータにより、被試験対象に与える信号のタイミング調整を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。例文帳に追加

In this invention, an IC tester is improved, wherein an address is given to the timing memory, and a timing of a signal to be given to a test object is adjusted by timing data output from the timing memory, and the test object is tested. - 特許庁

校正処理部２１ａでは、ロードセル１８の出力が基準試験力となるように校正用アンプの倍率を自動調整し、以降、この自動調整した値に基づきロードセル１８の出力から計測値を算出する。例文帳に追加

A calibration processing section 21a automatically adjusts the magnification of an amplifier for calibration so that the output of the load cell 18 becomes the reference testing force, and then calculates the measurement value from the output of the load cell 18, based on this automatically adjusted value. - 特許庁

試験処理部３５は、試験時に、試験光源を所定周波数で点滅又は明滅し、透光性窓を介して検知センサで受光した試験光の受光検知信号により、透光性窓の汚損状態を検出して外部に出力すると共に、受光検知信号を汚損補償するための回路条件を調整する。例文帳に追加

A test processing part 35 flashes or blinks a test light source at prescribed frequencies, dirty states of a translucent window is detected by a light reception detecting signal of the test light received by a detecting sensor via the translucent window to be outputted to the outside, and circuit conditions are adjusted for compensating the light reception detecting signal for the dirt. - 特許庁

そして、現場計器２の試験調整は計器試験装置３１が模擬試験入力管３３を介して当該現場計器２に模擬的プロセス量を入力させ、その出力を模擬信号計測ケーブル３２を介して取り込んで、当該値が所定範囲内になるように現場計器２を自動調整する。例文帳に追加

Test adjustment of the measuring instrument 2 at site is performed by inputting a simulated process amount into the measuring instrument 2 at site through a simulated test input pipe 33 by the measuring instrument test device 31 and taking in its output through a simulated signal measuring cable 32 to automatically adjust the measuring instrument 2 at site so that a value is within a predetermined scope. - 特許庁

電圧調整器７の出力を零電圧から試験電圧まで徐々に上昇させると、その出力電圧は選択スイッチ８を介して高圧用昇圧変圧器９に印加され、ここで昇圧されて、その昇圧電圧が被試験変圧器１１の二次巻線１１Ｓに印加される。例文帳に追加

When the output of the voltage adjuster 7 is boosted gradually from a zero voltage to a test voltage, the output voltage is applied on a high-voltage step-up transformer 9 through a selection switch 8, and boosted there, and the boosted voltage is applied on a secondary winding 11S of the transformer to be tested 11. - 特許庁