分岐テストの英語

仕様情報の制御の分岐条件からテスト項目し、抽出したテスト項目の組合せを最適化したテスト項目組合せ情報を生成するテスト項目生成装置を得ること。例文帳に追加

To provide a test item generation device extracting a test item from a branch condition of control of specification information, and generating test item combination information wherein a combination of the extracted test items is optimized. - 特許庁

間接的な分岐命令は、間接的な関数呼び出し、バーチャルな関数呼び出し、及びスイッチステートメントを実施して、テスト及び分岐の逐次チェーンの使用に比して処理性能を改善するのに使用される。例文帳に追加

The indirect branch instruction is used for improving processing in comparison with the use of the successive chain of test and branch by executing indirect function calling, virtual function calling and switch statement. - 特許庁

加圧弁６を開いて分岐エア通路３，４にテスト圧を付与した後、この加圧弁６を閉じることにより、分岐エア通路３，４が連通状態で閉鎖される。例文帳に追加

After test pressure is applied to the branch air passages 3 and 4 by opening a pressure applying valve 6, this pressure applying valve 6 is closed to close the branch air passages 3 and 4 in a linked state. - 特許庁

通常のテストモードにおいて、圧力供給手段１０からの初期圧を、共通通路２０を介してマスタ側分岐通路２１およびワーク側分岐通路２２に付与する。例文帳に追加

In normal test mode, an initial pressure from a pressure supply means 10 is supplied for a master-side branch passage 21 and work-side branch passage 22 via a common passage 20. - 特許庁

分岐が生じるテストし、入力を調整して、コードの全体に渡って取りえる限りの個々の処理経路を確実にたどらせるようにしてください。例文帳に追加

Exhaust as many code paths as possible.Test where branching occurs and thus tailor input to make sure as many different paths through the code are taken. - Python

分岐などを多く含んでいて処理の流れが複雑なテストプログラム全体の流れを容易に理解できるテスト支援装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a test support system which can provide an easy understanding of the entire flow of a test program which includes many branches or the like and a complicated processing flow. - 特許庁

テストパッド８，９を伝送線路４，７から離して配置する場合は、テストパッド８，９と伝送線路４，７との間を、伝送遅延時間がａ（ａ≦Ｌｓ−Ｌｔ）である分岐伝送線路１０，１１を介して接続する。例文帳に追加

When the test pads 8, 9 are arranged apart from the transmission lines 4, 7, between the test pads 8, 9 and the transmission lines 4, 7 is connected through branch transmission lines 10, 11 whose transmission delay time is a (a≤Ls-Lt). - 特許庁

本体４から延びる端子用配線２に連結され、テスト装置１４と接続されるテスト用端子３と、テスト用端子３が連結された端子用配線２から分岐して連結され、他の回路素子と接続される回路構成用端子５とを備える。例文帳に追加

This semiconductor chip is provided with terminals 3 for test which are linked with wiring 2 stretched from the device body 4 and connected with a test apparatus 14, and terminals 5 for circuit constitution which are branched and linked from the wiring 2 with which the terminals 3 are connected and which are connected with other circuit elements. - 特許庁