基板自動設計の英語

基板の設計段階で不要放射を生じる恐れのあるグラウンドパターン及び電源パターンを自動的に抽出する。例文帳に追加

To automatically extract such a ground pattern and a power source pattern that have a possibility of causing unnecessary radiation in a design stage of a printed board. - 特許庁

バイパスコンデンサの不足領域が存在しないように自動的にバイパスコンデンサを配置するプリント基板設計支援システムを提供する。例文帳に追加

To provide a print board design supporting system for automatically arranging a by-pass capacitor by preventing generation of an insufficient area for the by-pass capacitor. - 特許庁

基板設計データを用いなくとも、各部品の検査領域の領域設定データを自動作成できるようにする。例文帳に追加

To automatically form region setting data for inspection region of respective components even though substrate design data is not employed. - 特許庁

半導体パッケージの基板面上においてビアを配置すべき位置を基板面上に相当する仮想平面上で設計する設計処理を、演算処理装置により容易に実行することができる自動設計方法およびそのコンピュータプログラムを実現する。例文帳に追加

To achieve an automatic design method and a computer program thereof which allow an arithmetic processing unit to easily perform processing for designing the location of a via to be disposed on a substrate surface of a semiconductor package on a virtual plane corresponding to the substrate surface. - 特許庁

配線設計処理装置は、プリント基板の自動配線処理に含まれる各処理の実行順序である自動配線処理プロセスを自動生成する。例文帳に追加

A wiring design processor automatically generates an automatic wiring processing process as the order of performance of each processing included in the automatic wiring processing of a printed circuit board. - 特許庁

低コスト且つ誤謬の少ない欠陥探索並びにその型分類を自動的に行なう基板検査装置とその方法、特にマスク・レチクル等の基板に於いて欠陥粒子及び設計者の意図とは異なる欠陥図形を探索発見する自動検査と、それ等欠陥の型の自動分類とを行なう基板検査装置及びその自動検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection apparatus and a method for automatically detecting defects with little errors at low cost and classifying the defects, and in particular, to provide a substrate inspection apparatus and an automated inspection method for automated inspection to search and find defective particles and unintended defective figures by a designer on a substrate such as a mask reticle and for automated classification of these defects. - 特許庁

低コスト且つ誤謬の少ない欠陥探索並びにその型分類を自動的に行なう基板検査装置とその方法、特にマスク・レチクル等の基板に於いて欠陥粒子及び設計者の意図とは異なる欠陥図形を探索発見する自動検査と、それ等欠陥の型の自動分類とを行なう基板検査装置及びその自動検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for inexpensively performing defect inspection with fewer errors and for automatically classifying defects, especially to provide: an automated inspection for automatically inspecting and detecting detect particles and defect patterns different from patterns that a designer intends to be; an automated inspection apparatus for automatically classifying the defects; and to provide the automated inspection method for the same. - 特許庁

プリント基板データの回路ネットに対して、設計標準や規格を元に種別や特性で分類された属性情報入力を行い、使用する設計基準を複数選択すると、回路ネットの種別や特性の組み合わせで記述された設計基準情報を使って、基準ギャップを自動計算しプリント基板設計のクリアランスチェックを行う。例文帳に追加

Attribute information classified with types or characteristics based on design standards or specifications is input to the circuit network of printed circuit board data, and when a plurality of design reference to be used are selected, the design reference information described based on the combination of the types or characteristics of the circuit network is used to automatically calculate a reference gap for performing the clearance check of printed circuit board design. - 特許庁