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英訳・英語 micrometer machine


JST科学技術用語日英対訳辞書での「微動計」の英訳

微動計


「微動計」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 31



例文

常時微動計測に基づく建物の健全性診断法例文帳に追加

BUILDING SOUNDNESS DIAGNOSING METHOD BASED ON CONTINUOUS MICROMOTION MEASUREMENT - 特許庁

ヘッドの出力に基づいて、微動ステージ位置測系が微動ステージWFS1の位置情報を測する。例文帳に追加

Based on output of the head, a slight movement stage position measurement system measures position information of the slight movement stage WFS1. - 特許庁

従って、微動ステージ位置測系と測アーム位置測系72A_0との測結果に基づいて、光軸AXを基準とする微動ステージWFS1の位置情報を高精度で測する。例文帳に追加

Thus, based on measurement results of the slight movement stage position measurement system and the measurement arm position measurement system 72A_0, the position information of the slight movement stage WFS1 in reference to the light axis AX is measured precisely. - 特許庁

常時微動計測に基づく建物の健全性診断法並びに健全性診断プログラム例文帳に追加

SOUNDNESS DIAGNOSIS METHOD AND SOUNDNESS DIAGNOSIS PROGRAM OF BUILDING BASED ON MICROTREMOR MEASUREMENT - 特許庁

常時微動計測に基づく建物の健全性診断法、診断装置及び診断プログラム例文帳に追加

SOUNDNESS DIAGNOSIS METHOD OF BUILDING BASED ON MICROTREMOR MEASUREMENT, DIAGNOSIS APPARATUS, AND DIAGNOSIS PROGRAM - 特許庁

微動Zミラー13により反射された第1の測光16cを反射鏡16aを介して干渉7へ戻して微動ステージ3の第1の方向における位置を測する。例文帳に追加

The first measurement light 16c reflected by the slight movement Z mirror 13 is returned to an interferometer 7 via the reflector 16a, thus measuring a position in the first direction of the slight movement stage 3. - 特許庁

例文

露光ステーション及び測ステーションでウエハを保持する微動ステージの位置を精度良く測する。例文帳に追加

To precisely measure positions of fine movement stages holding wafers at an exposure station and a measurement station. - 特許庁

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日英・英日専門用語辞書での「微動計」の英訳

微動計


「微動計」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 31



例文

この場合、エンコーダシステムのヘッドを微動ステージ(グレーティング)に近接して配置することができ、これにより、エンコーダシステムによる微動ステージの位置情報の高精度な測が可能になる。例文帳に追加

In this case, the head of the encoder system is placed in proximity to the fine movement stage (the grating), which allows a highly precise measurement of the positional information of the fine movement stage by the encoder system. - 特許庁

これにより、地震の初期微動を検知した場合、保持した初期微動の検知後1秒乃至1秒以内の一定時間の最大振幅と算出された統量の関係から、震源距離あるいは震央距離を推定する。例文帳に追加

Thereby when detecting a preliminary tremor of an earthquake, a hypocentral distance or an epicentral distance is estimated from a relationship between the retained maximum amplitude, which was obtained within one second or not more than one second after the detection of the preliminary tremor, and the calculated amount of statistics. - 特許庁

また、測ステーション300で、粗動ステージWCS2に支持された微動ステージWFS2上のウエハWに対するアライメントが行われる際に、測系70Bにより微動ステージWFS2のXY平面内の位置を精度良く測する。例文帳に追加

Further, when an alignment to the wafer W on the fine movement stage WFS2 supported by a coarse movement stage WCS2 is performed at the measurement station 300, the position of the fine movement stage WFS2 within an XY plane is measured with good precision by a measurement system 70B. - 特許庁

露光ステーション200では、ウエハを保持するステージWFS1の位置情報は、測アーム71Aを含む第1の微動ステージ位置測系により測され、測ステーション300では、ウエハを保持するステージWFS2の位置情報は、測アーム71Bを含む第2の微動ステージ位置測系により測される。例文帳に追加

In an exposure station 200, positional information of a stage WFS1 for holding a wafer is measured by a first fine movement stage position measurement system including a measurement arm 71A, and in a measurement station 300, positional information of a stage WFS2 for holding a wafer is measured by a second fine movement stage position measurement system including a measurement arm 71B. - 特許庁

すでに光軸調整されたレンズF_2 〜F_4 に対してレンズF_1 の偏心量を測してXY微動ステージ12を駆動する。例文帳に追加

An XY fine moving stage 12 is driven by measuring the eccentric quantity of a lens F1 to the lenses F2-F4 whose optical axis are previously adjusted. - 特許庁

すでに光軸調整されたレンズF_2 〜F_4 に対してレンズF_1 の偏心量と偏心方向を測してXY微動ステージ12を駆動する。例文帳に追加

An XY fine moving stage 12 is driven by measuring the eccentric quantity and the eccentric direction of a lens F1 to the lenses F2-F4 whose optical axes are already adjusted. - 特許庁

固視微動の成分の大きさを精度良く算出することができる眼球運動測装置を提供する。例文帳に追加

To provide an eyeball movement measuring device accurately measuring the size of a component of miniature eye movement. - 特許庁

例文

微動ステージWFS1と微動ステージWFS1を支持する粗動ステージWCS1とにより囲まれる空間内に位置決めされる測アーム71Aがエンコーダヘッドを有し、該ヘッドにより微動ステージWFS1に設けられたグレーティングRGに測ビームを照射し、グレーティングRGからの戻りビームを受光する。例文帳に追加

A measurement arm 71A positioned within a space surrounded by a slight movement stage WFS1 and a rough movement stage WCS1 for supporting the slight movement stage WFS1 includes an encoder head, applies measurement beams to a grating RG provided in the slight movement stage WFS1 by the head, and receives return beams from the grating RG. - 特許庁

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