接触可能導電部の英語

２つの接続対象物の一方の接続対象物の端子部に接触可能な第１の導体接触部１１３ａを導電路１１３に形成し、他方の接続対象物の端子部に接触可能な第２の導体接触部１１３ｂを導電路１１３に形成する。例文帳に追加

A first conductor contact portion 113a which can contact with a terminal portion of the one connecting object out of the two connecting objects is formed in the conductive passage 113, and a second conductor contact portion 113b which can contact with a terminal portion of the other connecting object is formed in the conductive passage 113. - 特許庁

ランプピン４を挿抜可能な開位置と、ランプピン４に導電板の接触部が接触導通する閉位置との間で、ソケット本体９は支持体１０に対して回動可能である。例文帳に追加

A socket body 9 is rotatable with respect to a support body 10 between an open position allowing insertion of lamp pins 4 and a close position allowing contact parts of a conductive plate to contact and be electrically connected to the lamp pins 4. - 特許庁

また、導電部材は、軸部（４４ａ）を中心として、他方の端子と接触する位置から一方の端子と接触する位置に回転可能である。例文帳に追加

Further, the conductive member is rotatable around a shaft (44a) from a position in contact with the other one of the terminals to a position in contact with one of the terminals. - 特許庁

前記シートスイッチは、前記接触子と電気的に導通するために変形可能な接点部材（７、９、１０）を含む。例文帳に追加

The sheet switch includes a contact point member (7, 9, 10) deformable to electrically connect with the contact piece. - 特許庁

被検査部品とこれに電気を導通する電極との接触力を容易に設定可能とした電気部品の検査装置の提供。例文帳に追加

To provide an inspecting device for an electric part, capable of easily setting contact force between a part to be inspected and an electrode for performing continuity of the part. - 特許庁

この際、腹部電極用パッド３００に設けられた導電性ゲル３１０の下面側が、腹部電極２００の上面部分に電気的に導通可能に接触する。例文帳に追加

On the occasion, the lower surface side of the conductive gel 310 provided on the pad 300 for the abdominal electrode comes into contact with the upper surface portion of the abdominal electrode 200 so that it can be in electrical continuity to the portion. - 特許庁

また、電力線５０に差し込み可能な導体接触部３を具えることで、停電することなく施工することができる。例文帳に追加

In addition, the construction is performed without causing the power interruption by providing the power lines 50 with the conductor contact part 3 which can be plugged in. - 特許庁

半導体素子の電極部に対する接触子の接触抵抗の増加を抑制し、電極部に安定的に接触子を接触させて半導体素子の検査を円滑かつ良好に行うことが可能なコンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケットを提供する。例文帳に追加

To provide a contact probe which suppresses increase of contact resistance of a contact piece to an electrode part of a semiconductor element and stably brings the contact piece into contact with the electrode part to smoothly and successfully perform an inspection of the semiconductor element, and a socket for the semiconductor element with the same. - 特許庁