散乱計データの英語

原稿を読み取る入射光の散乱や反射により生じる擬似信号であるフレアを補正するためのフレア補正データを精度良く計測して、読取り画像データを高精度に補正する。例文帳に追加

To measure with high accuracy flare correction data for correcting flare being a pseudo signal caused by the scattering or reflection of incident light to read an original so as to correct read image data with high accuracy. - 特許庁

先ず、単一波長を有する光パルスを光ファイバＦに入射して当該光ファイバＦ後方散乱光の強度をＯＴＤＲ１０で計測し、計測したデータを伝播時間別にＰＣ１１のＲＡＭに蓄積する。例文帳に追加

An optical pulse having a single wavelength is incident on an optical fiber F, and the intensity of the backward scattered light of the optical fiber F is measured by an OTDR 10, and the measured data are accumulated in the RAM of a PC 11 according to propagation times. - 特許庁

これにより、３次元データを扱う蛍光光度計において、散乱光に非常に近いところに現れた蛍光ピークや、形状が分かりづらいピークであっても精度よく認識することが出来る。例文帳に追加

Thereby, in a fluorophotometer which handles three-dimensional data, a fluorescence peak which appears in a part very close to scattered light and even a peak whose shape is hard to distinguish can be recognized with satisfactory accuracy. - 特許庁

補正は、補正値が直接Ｘ線強度で得られる場合は置き換え、補正値が散乱Ｘ線強度で得られる場合は、計測データから補正値を減算する。例文帳に追加

For correction, replacement is performed when the correction value is obtained by direct X-ray intensity and the correction value is subtracted from the measurement data when the correction value is obtained by scattered X-ray intensity. - 特許庁

蛍光量子収率演算の過程で、散乱光データの波長の計算範囲と、蛍光強度データの波長の計算範囲を適切に指定することができ、励起波長特性の分からないサンプルでも、容易にかつ効率的に、蛍光量子収率演算を行うことができる分光蛍光光度計を実現すること。例文帳に追加

To realize a spectrofluorophotometer capable of properly specifying a calculation range of the wavelength of scattered light data and a calculation range of the wavelength of fluorescent intensity data in the operation process of a fluorescent quantum yield and capable of easily and efficiently operating the fluorescent intensity data even with respect to a sample unknown in its exciting wavelength characteristics. - 特許庁

誘電率検出回路５２は、多孔質膜１２の膜厚に応じた比誘電率と散乱光強度との相関関係を計算式として記憶しており、多孔質膜１２の膜厚情報を入力して、アナログ処理回路５１の出力データと膜厚情報とから多孔質膜１２の比誘電率を計算する。例文帳に追加

A dielectric constant detection circuit 52 memorizes, as a computation formula, a correlation between the relative dielectric constant and the scattered light intensity according to the thickness of the porous film 12, and computes the relative dielectric constant of the porous film 12 from the output data from the processing circuit 51 and the thickness information of the porous film 12 by inputting the thickness information. - 特許庁

離型紙面に形成された熱硬化性樹脂または熱可塑性樹脂の塗膜の目付を測定する方法であって、前記塗膜に紫外光を含む光を照射し、前記塗膜を透過して前記離型紙面で散乱された光の強度を計測し、その光の強度と検量線データとを比較することにより、塗膜の目付を測定することを特徴とする塗膜目付の測定方法。例文帳に追加

The method of measuring the basis weight of the coating of a thermosetting resin or thermoplastic resin formed on the face of the release paper includes: irradiating the coating with light including ultraviolet light; measuring the intensity of light scattered on the face of the release paper by transmitting the coating; and measuring the basis weight of the coating by comparing the intensity of the light with a calibration curve. - 特許庁