消費テストの英語

消費電力算出用のテストベクタ生成装置およびテストベクタ生成方法例文帳に追加

TEST VECTOR GENERATING DEVICE FOR POWER CONSUMPTION CALCULATION AND TEST VECTOR GENERATING METHOD - 特許庁

次に、スクリーニングテスト後のスタンバイテストでは、各テストポイントで測定した消費電流とスクリーニングテスト前に測定した消費電流との差分を算出し、それらが第２の消費電流しきい値よりも大きい半導体装置を不良品とする。例文帳に追加

In a standby test after the screening test, as a result of the calculation of the difference between the consumption current measured at each test point and the consumption current measured before the screening test, the semiconductor device of which the difference exceeds a second consumption current threshold is regarded as faulty. - 特許庁

テストストリップを押し込んで、消費者は、懐中電灯を一時的に試験することができる。例文帳に追加

The consumer is able to test the flashlight temporarily by pushing the test strip in. - 特許庁

ＡＬＵ演算と並列な係数テスト演算を使用して消費電力が低く維持される。例文帳に追加

Power consumption is kept low by using coefficient test operation parallel with the operation of the ALU. - 特許庁

モジュール型スキャンテストの消費電力を減らす回路と方法を提供する。例文帳に追加

To provide a circuit and a method for reducing consumption power for module-type scan test. - 特許庁

バウンダリスキャンテスト回路を搭載した半導体装置の消費電力を軽減することにある。例文帳に追加

To reduce the power consumption of a semiconductor device to which a boundary scan testing circuit is mounted. - 特許庁

通常動作時において消費電力の少ないテスト回路を有する半導体装置を提供する例文帳に追加

To provide a semiconductor device provided with a test circuit of a little power consumption at the time of normal operation. - 特許庁

本発明は、テスト時における消費電力を小さくする半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device for reducing power consumption at testing. - 特許庁