精密検査法の英語

本発明の目的は検査の精密度を高めて検査速度を高めるようにしたフラットパネルディスプレイの検査方法及び装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for inspecting a flat-panel display, which increase the rate of an inspection by improving the accuracy of inspection. - 特許庁

加圧を行う前に、基板の検査をより精密に行うことが可能な電子部品モジュールの製造方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of an electronic component module which can perform further precision inspection for a substrate before applying pressure thereto. - 特許庁

精密マシンビジョン検査システムにおける落射照明画像エッジ位置誤差を補正するための方法が開示される。例文帳に追加

A method for correcting an epi-illumination image edge position error in a precision machine vision inspection system is disclosed. - 特許庁

試料の線幅、欠陥などを精密に測定、検査することができる、荷電粒子ビーム装置のマッチング方法の提供。例文帳に追加

To provide a matching method of a charged particle beam device capable of accurately measuring and inspecting line width, defect and the like of a sample. - 特許庁

加熱及び／または冷却手段からの無駄な熱の移動や、電子部品から検査プローブを介する無駄な熱の移動を防止して、電子部品の温度特性を精密に計測できるようにし、正確な検査を迅速に行うことができる検査装置と検査方法を提供する。例文帳に追加

To prevent wasteful heat from being transferred from a heating and/or cooling means, and from an electronic component via an inspection probe to measure precisely a temperature characteristic of the electronic component, and to quickly conduct accurate inspection. - 特許庁

本発明は、検出誤差が小さく検出時間も短い永久磁石型同期機の初期位相検出方法、永久磁石型同期機の制御方法、移動装置、電子部品の製造装置、電子部品の検査装置、精密部品の製造装置、精密部品の検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an initial phase detection method for a permanent-magnet synchronous machine having little detection error and a shorter detection time, and a control method for the permanent-magnet synchronous machine, a moving device, a manufacturing device for an electronic component, an inspection device for an electronic component, a manufacturing device for a precision component and an inspection device for a precision component. - 特許庁

多層プリフォームまたは多層ブロー成形容器を構成する各樹脂層の配置状態を、簡単かつ迅速な方法により精密に検査することが可能な検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for inspection precisely inspecting arrangement conditions of respective resin layers constituting a multilayered preform or a multilayered blow molded container by a simple and rapid method. - 特許庁

透明な焦点板（２０）の上に設置された精密パターン・マスク（図４）の画像を作成するためのカメラ（１０）を含む、プリント基板および集積回路を検査するための部品検査および校正方法。例文帳に追加

A method of inspecting and calibrating a component for inspecting a printed board and an integrated circuit includes a camera (10) for creating an image of a precision pattern mask (Fig.4) placed on a transparent reticle (20) is disclosed. - 特許庁