線幅倍率の英語

設定された変倍率が複数に及ぶ場合は、その都度設定された変倍率に最適な走査線幅にて原稿を再度読取、読取った原稿を画像データとして、記憶装置へ格納する。例文帳に追加

If the variable power rates which are set are more than one, the original is read again with scanning line widths optimum to the variable power rates which are set in each case, and the original which is read is stored into a storage device as image data. - 特許庁

線幅測定調整方法は、第１の倍率において走査される電子ビームの第１の電子ビーム強度分布と、第２の倍率において走査される電子ビームの第２の電子ビーム強度分布とが同等になるように前記第２の電子ビーム強度分布を調整することを含む。例文帳に追加

This linewidth measurement regulation method includes regulation for the second electron beam intensity distribution to make the first electron beam intensity distribution of an electron beam scanned in the first magnification equal to the second electron beam intensity distribution of an electron beam scanned in the second magnification. - 特許庁

放射線が半導体のＸ線検出器１に入射し、そのパルス信号がプリアンプ２によって増幅され、階段状の電圧波形信号が整形アンプの微分回路４で微分され、ＤＣ成分がカットされた後、所定の倍率に増幅器５で増幅される。例文帳に追加

Radiation gets incident on the X-ray detector 1 of a semiconductor, a pulse signal thereof is amplified by a preamplifier 2, and a voltage waveform signal of a stepped shape is differentiated by the differentiating circuit 4 of a shaping amplifier to be amplified to a prescribed magnification by an amplifier 5 after a DC component is cut. - 特許庁

高倍率下においても測定（観察）対象物にダメージ等を与えず、常に高精度なＳＥＭイメージと線幅測定値とを得ることができる走査型電子顕微鏡装置と該装置による測長方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope apparatus which enables to get always a high accuracy SEM image and line width measurement value without giving damage or the like to an object of measurement (observation) even under a high magnification, and a method of a length measurement with the microscope apparatus. - 特許庁

倍率、走査方向や測定装置を変更しても、測定結果の変動が生じない線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a linewidth measurement regulation method and a scanning electron microscope capable of preventing a measured result from being fluctuated even when changing a magnification, a scanning direction and a measuring instrument. - 特許庁

配線の微細化が進むと、実際の配線幅に比較して画像中の配線の幅方向のピクセル数が不十分になり、検査精度を向上させるために、撮影倍率を向上させると、処理能力が落ちて、生産性が落ちてしまうという課題を解消できる技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology for solving such problems that, when the pixel number in the width direction of wiring in an image becomes insufficient as compared with the actual wiring width if microfabrication of the wiring is progressed and the photographing magnification is improved in order to improve inspection accuracy, the processing capability drops and productivity drops. - 特許庁

表示部におけるプレビュー表示部１１に、印刷する画像を表示するとともに、表示部におけるテストチャート表示領域１２に、プレビュー表示部１１に表示された画像と同じ表示倍率で、所定幅の線を所定間隔に並べたラインチャートをテストチャートとして表示する。例文帳に追加

An image to be printed is displayed in a preview display part 11 of a display part, and a line chart which has lines having a prescribed width arranged at prescribed intervals is displayed as a test chart in a test chart display area 12 of the display part with the same display scale factor as the image displayed in the preview display part 11. - 特許庁