被試験機の英語

被試験デバイスを試験する試験装置を診断する診断装置であって、被試験デバイスを試験する試験プログラムに基づいて、試験装置の複数の構成要素のうち、被試験デバイスの試験に用いる構成要素を抽出する機能抽出部と、機能抽出部が抽出したそれぞれの構成要素を診断する診断部とを備える診断装置を提供する。例文帳に追加

A diagnostic system for testing a device to be tested, based on the test program selected among the plurality of constitutional components may comprise: a function extraction part for extracting the constitutional components to be used for testing the objective device; and a diagnostic part for diagnosing each constitutional components extracted by the function extracting part. - 特許庁

ＰＭモータの特性試験を実施する場合、試験機と被試験機との接続作業に時間がかかり、多数のＰＭモータの試験を行うのは大変であると共に、試験機の駆動用制御装置が必要となっている。例文帳に追加

To solve problems in a characteristic test for the PM motor wherein connection work between a testing machine and a tested machine takes much time, a large number of PM motors is tested with great inconvenience and that a controller for drive of the testing machine is required. - 特許庁

変換装置システム１は、カップリングされた被試験用回転機２１と被試験用回転機２２とに対して、一方の被試験用回転機を駆動側、他方の被試験用回転機を発電側として、交互に実行する。例文帳に追加

The converter system 1 alternately performs a first case and a second case to the coupled rotary machine to be tested 21 and the rotary machine to be tested 22 with one rotary machine to be tested as a driving side and the other rotary machine to be tested as a power generation side. - 特許庁

マルチポート試験機能を持つ集積回路テスタおよび被験デバイスの試験方法例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT TESTER HAVING MULTI-PORT TESTING FUNCTION, AND METHOD OF TESTING DEVICE TO BE TESTED - 特許庁

試験テーブル４上に備えられた平板状の試験台２と試験台に被試験紙を装着する部材３と、円筒上のローラ１を備え、試験テーブル下にはモータ等の前記ローラを駆動する機構が備えられている。例文帳に追加

This particle collector is provided with a plate type test base 2 arranged on a test table 4, a member 3 for sticking tested paper to the test base, and a cylindrical roller 1, and a mechanism such as a motor driving the roller is arranged beneath the test table. - 特許庁

振動試験装置１００は、一自由度系の被試験体１３をテーブル１に搭載し、加振機２で加振して加振試験する。例文帳に追加

A vibration testing device 100 places the object 13 to be tested in a 1 freedom degree system on a table 1 and excites the object to be tested by a shaker 2 for excitation tests. - 特許庁

被試験機器の消費電流によらず、同一の試験条件を実現できるサージ試験回路を提供する。例文帳に追加

To provide a surge test circuit that can realize the same testing condition regardless of consumption current of tested-equipment. - 特許庁

被試験機が所望の動作をしているか否かを効率的に判定することができる試験方法および試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test method and a test device capable of efficiently determining whether a tested machine performs the desired operation or not. - 特許庁