複探針の英語

本発明は、記録媒体に対して探針を走査し、その物理的相互作用によって記録再生を行う情報の記録再生装置であって、前記探針が複数組の探針からなり、該探針の記録再生に関与しない探針組を、前記記録媒体の記録領域と同一基板上に設けられた退避領域に退避させるように構成したことを特徴とするものである。例文帳に追加

In this device for recording and reproducing information by scanning a recording medium 4 with probes and using their physical interaction, the probe consists of plural groups of probes, and probe groups without being participated in the recording and reproducing are arranged so as to be retracted to a retracting area 9 provided on the same substrate as the recording area of the recording medium 4. - 特許庁

１個または複数個の変位可能な探針尖端を備えたスキャンシステムに関する。例文帳に追加

The scan system is provided with one or a plurality of displaceable probe tips. - 特許庁

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。例文帳に追加

While observing with a scanning electron microscope, a plurality of probes 1, 2, 3 and 4 each having a sharp tip are made to approach sample electrodes 5, 6, 7 and 8, respectively, and made to come into contact with them completely until a contact current saturates by the use of probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17 under the control of a probe movement control circuit 18. - 特許庁

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。例文帳に追加

A plurality of point probes having sharp tips 1, 2, 3 and 4 access sample electrodes 5, 6, 7 and 8 respectively until contact currents saturate and contact with them securely, while observing through a scanning electron microscope, by the control of a point probe moving control circuit 18 by using point probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17. - 特許庁

この際、金属探針８の先端がカンチレバー６の自由端よりも飛び出るようにすることで、１０ｎｍレベル領域への複数探針の接触を可能にする。例文帳に追加

The leading end of the metallic probe 8 is made to project from the free end of the cantilever 6, so that a plurality of probes can be brought in contact with a region of a 10 nm level. - 特許庁

ＧａＮ基板に対して４探針法などの複数の探針を接触させる抵抗測定方法において、安定して精度よく電気抵抗を測定する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for measuring an electric resistance stably and precisely in the method, such as the four-probes method, in which a plurality of probes are contacted with a GaN substrate. - 特許庁

原料であるカーボンナノチューブの消費に対しては、複数のカーボンナノチューブ探針を用意し、切り替えて使用する。例文帳に追加

In consideration of the consumption of the carbon nanotube as a material, a plurality of carbon nanotube probes are prepared and used under changeover. - 特許庁

温度制御器２２が、ペルチェ素子２０を介して複数のエミッタ用探針１６の温度を個別に制御する。例文帳に追加

A temperature controller 22 controls the plurality of probes for emitter 16 via Peltier elements 20, individually. - 特許庁