走査透過電子顕微鏡装置例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE - 特許庁

走査型透過電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡、および走査透過電子顕微鏡の調整方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TUNING METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡は2つのタイプに分類できる: 透過電子顕微鏡と走査電子顕微鏡である。例文帳に追加

Electron microscopes are divided into two types: transmission electron microscopes and scanning electron microscopes.発音を聞く  - 科学技術論文動詞集

透過型および走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加

TRANSMISSION TYPE AN SCAN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION CORRECTION METHOD - 特許庁

走査像観察機能を有した透過電子顕微鏡例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE HAVING SCAN IMAGE OBSERVATION FUNCTION - 特許庁

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD - 特許庁

ガス増幅を使用した走査透過電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING GAS AMPLIFICATION - 特許庁

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法例文帳に追加

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置例文帳に追加

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法例文帳に追加

DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD - 特許庁

走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS - 特許庁

透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPY USING IT - 特許庁

多重荷電粒子検出器、及びそれを用いた走査透過電子顕微鏡例文帳に追加

MULTIPLE CHARGED PARTICLE DETECTOR, AND SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置例文帳に追加

ABERRATION CORRECTION METHOD AND ABERRATION CORRECTION DEVICE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法、ならびに収差補正方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, ABERRATION MEASURING METHOD, AND ABERRATION CORRECTION METHOD - 特許庁

走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法例文帳に追加

ABERRATION CORRECTION DEVICE AND ABERRATION CORRECTION METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置例文帳に追加

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION EQUIPMENT BY SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

パターン寸法計測方法及び走査型透過荷電粒子顕微鏡例文帳に追加

PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD, AND SCANNING TRANSMISSION CHARGED PARTICLE MICROSCOPE - 特許庁

磁区構造画像取得方法および走査透過電子顕微鏡例文帳に追加

MAGNETIC DOMAIN STRUCTURAL IMAGE ACQUISITION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡における色収差および開口収差を除去する。例文帳に追加

To provide a correction device in which a chromatic aberration and an aperture aberration in a scanning electron microscope or a scanning transmission type electron microscope are removed. - 特許庁

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。例文帳に追加

To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system. - 特許庁

走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法例文帳に追加

COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

当該マイクロリアクターは、走査型透過電子顕微鏡での検査、250-300eV範囲での軟X線での検査等のため、光学顕微鏡と併用されて良い。例文帳に追加

The microreactor may be combined with an optical microscope in order to inspect by a scanning transmission type electron microscope and inspect by a soft X-ray in the range of 250-300 eV. - 特許庁

電磁レンズにおける色収差係数測定方法及び走査透過電子顕微鏡例文帳に追加

CHROMATIC ABERRATION COEFFICIENT MEASURING METHOD IN ELECTROMAGNETIC LENS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡の走査透過電子像観察装置例文帳に追加

OBSERVING APPARATUS FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE MOUNTED WITH ENERGY FILTER - 特許庁

元素マッピング装置，走査透過型電子顕微鏡および元素マッピング方法例文帳に追加

ELEMENT MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ELEMENT MAPPING METHOD - 特許庁

元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法例文帳に追加

ELEMENT ANALYZING APPARATUS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD - 特許庁

元素マッピング装置、走査透過型電子顕微鏡及び元素マッピング方法例文帳に追加

ELEMENT-MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELEMENT-MAPPING METHOD - 特許庁

走査透過電子顕微鏡用薄膜状試料の作製方法および薄膜試料の観察方法例文帳に追加

METHOD OF MANUFACTURING MEMBRANE SAMPLE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE - 特許庁

高圧環境中の試料を使用して動作する走査透過電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a scanning transmission electron microscope operated with a sample in a high pressure environment. - 特許庁

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法例文帳に追加

CONFOCAL SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL TOMOGRAPHIC OBSERVATION METHOD - 特許庁

走査透過電子顕微鏡等により取得した画像を最大エントロピー法により画像処理する。例文帳に追加

The image acquired by a scanning transmission electromicroscope or the like subjected to image processing using a maximum entropy method. - 特許庁

絶縁物等の試料表面上のチャージアップを有効に中和させることができる走査電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡等の電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide an electron microscope such as a scanning electron microscope and a transmission type electron microscope capable of effectively neutralizing charge-up on a sample surface such as an insulator. - 特許庁

収差補正器を搭載した走査透過電子顕微鏡において、従来よりも簡便で取り扱いやすい収差補正器の調整方法、および当該機能を備えた走査透過電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a simpler and easy-to-use method for adjustment of an aberration correction apparatus in a scanning transmission electron microscope with built-in aberration correction apparatus, and to provide a scanning transmission electron microscope with such a functionality. - 特許庁

環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡例文帳に追加

INCIDENT AXIS ADJUSTING METHOD OF SCATTERED ELECTRON BEAM AGAINST ANNULAR DARK FIELD SCANNING IMAGE DETECTOR, AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

知られた方法は、走査透過電子顕微鏡を使用することを伴うと共に、ＳＴＥＭの回折の走査されたビームを使用する。例文帳に追加

The known method includes using a scanning transmission electron microscope, and also using a scanned diffraction beam of the STEM. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡装置で分析対象物（５）を透過した電子線は元素マッピング装置に入射する。例文帳に追加

An electron beam transmitting through an object 5 to be analyzed in this scanning transmission electron microscope enters the element mapping device. - 特許庁

走査電子顕微鏡における一般的な対物レンズを用いて試料の走査透過電子像を取得する際に、像取得時での分解能を向上させることのできる試料ホルダ及び電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a sample holder and an electron microscope, capable of improving resolution in acquiring an image when an scanning transmission electron image of a sample is acquired by using a general objective lens of the scanning electron microscope. - 特許庁

光学顕微鏡で観測した平均繊維長（Ｌ１）が１０μｍ以上４０μｍ以下であって、透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラー。例文帳に追加

The pitch-based carbon short fiber filler has >10 to ≤40 μm average fiber diameter (L1) observed under an optical microscope, a closed graphene sheet in observation of a filler end face under a transmission type electron microscope, and a substantially flat surface observed under a scanning electron microscope. - 特許庁

光学顕微鏡で観測した平均繊維長（Ｌ１）が４０μｍ以上８０μｍ未満であって、透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラー。例文帳に追加

The pitch-based carbon short fiber filler has a mean fiber length (L1) of 40 μm or more but less than 80 μm observed with an optical microscope, a closed graphene sheet by filler end face observation with a transmission electron microscope, and a substantially flat surface observed with a scanning electron microscope. - 特許庁