走査透過電子顕微鏡像の英語

走査電子顕微鏡における一般的な対物レンズを用いて試料の走査透過電子像を取得する際に、像取得時での分解能を向上させることのできる試料ホルダ及び電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a sample holder and an electron microscope, capable of improving resolution in acquiring an image when an scanning transmission electron image of a sample is acquired by using a general objective lens of the scanning electron microscope. - 特許庁

透過式での試料画像の生成が、異なるコントラスト付けで可能な走査電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of generating a sample image in a transmission type microscope with a different contrast. - 特許庁

高い倍率で安定して再現性の良い鮮明な走査透過型電子顕微鏡像の観察を可能にする。例文帳に追加

To provide a scanning transmission type electron microscope capable of stably observing a clear image which is reproducible at high magnification. - 特許庁

電子ビームの走査のための偏向電流に重畳したノイズによる走査像の画質や分解能の劣化を、著しく軽減することができる走査像観察機能を有した透過電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope with a scanned image observation function which can remarkably reduce deterioration of scanned image quality and resolution due to noises superposed on a deflecting current for scanning of electron beam. - 特許庁

電子ビームを試料上で傾斜させて走査した場合でも、主ビームが常に円環状の暗視野走査像検出器の中心を通るようにすることができる走査像観察機能を有した透過型電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope having a scan image observation function for always passing a main beam through the center of an annular dark-field scan image detector even when scanning is carried out by a tilted electron beam on a sample. - 特許庁

ロンチグラムから収差係数を決定し各収差を補正する信号を装置にフィードバックすることにより、指定した分解能を有する走査透過像を得ることができることを特徴とした走査透過電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning transmission electron microscope capable of obtaining a scanning transmission image having a specified resolution by deciding an aberration coefficient from Ronchigram and applying feedback of signals correcting each aberration to a device. - 特許庁

走査透過型の電子顕微鏡に電子線エネルギー分析装置（エネルギーフィルタ）１１を備え、電子線エネルギー損失スペクトルや元素分布像を観察する。例文帳に追加

An electron beam energy analyzer (energy filter) 11 is installed to a scanning transmission type electron microscope to observe an electron beam energy loss spectrum and an element distribution image. - 特許庁

このように、本発明の電子顕微鏡においては、視野探しの時に電子線を走査させて透過電子像を得ており、視野探しから撮影にかけて集束レンズの励磁状態は変化しない。例文帳に追加

In this way, since a transmission electron image is obtained by the electron beam scanning at searching for the visual field as for this invention of the electron microscope, the magnetized state remains unchanged from searching for the visual field up to the photographing time. - 特許庁