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STEM imageとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 STEM像
「STEM image」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 25件
Heavy atoms appear bright in the HAADF-STEM image.発音を聞く 例文帳に追加
重い原子は、HAADF-STEM像では明るく見える(現れる)。 - 科学技術論文動詞集
The resolution of the HAADF-STEM image is given by the probe size.発音を聞く 例文帳に追加
HAADF-STEM像の分解能はプローブサイズによって与えられる。 - 科学技術論文動詞集
The image of Bosatsu holds a stem of a long lotus flower with his left hand.発音を聞く 例文帳に追加
左手に長い蓮華の茎を持つ。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
To prevent fluctuations in energy selection range and prevent occurrence of a visual field cut in a stem image.例文帳に追加
エネルギー選択範囲の変動を防止し、ＳＴＥＭ像に視野カットが発生することを防止する。 - 特許庁
To provide a sample holder capable of obtaining a confocal dark field STEM image and a three-dimensional tomogram, and to provide a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加
試料が傾斜した状態で、共焦点暗視野STEM像、3次元断層像を得られる試料ホルダおよび走査型透過電子顕微鏡を提供することを提供することを課題とする。 - 特許庁
The length Wmm up to an end part from the center of the stem part 4 of a projected image of the fin 5 is [L/2≤W4h(L-2)] against the length Lmm up to the tray part outer peripheral edge 8 from the center of the stem part 4 in the projected image direction.例文帳に追加
また、フィン５の投影像のステム部４中心から端部までの長さＷｍｍが、前記投影像方向でのステム部４中心からトレイ部外周縁８までの長さＬｍｍに対して、Ｌ／２≦Ｗ≦（Ｌ−２）である。 - 特許庁
A T1 emphasized image, a T2 emphasized image and a diffusion emphasized image in which all the tomographic images of the hippocampus, amygdala, brain stem and cerebral cortex in the limbic system of the subject are captured on the same plane are used.例文帳に追加
被験者大脳辺縁系の海馬、扁桃、脳幹及び大脳皮質の断層が全て同一面上に撮影されたＴ１強調画像、Ｔ２強調画像、拡散強調画像を用いる。 - 特許庁
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「STEM image」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 25件
To provide a device and method for acquiring a confocal STEM image having a simple structure in a device for acquiring a confocal image.例文帳に追加
本発明は共焦点像取得装置に関し、構成を簡単にした共焦点ＳＴＥＭ像取得方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁
To provide a complex electron capable of obtaining accurate correspon dence between the SEM/STEM image and TEM image.例文帳に追加
本発明は複合電子顕微鏡に関し、ＳＥＭ／ＳＴＥＭ像とＴＥＭ像との対応を正確にとることができる複合電子顕微鏡を提供することを目的としている - 特許庁
A single crystal sample 20 whose crystal lattice interval is known is mounted on a sample mounting section 16, and a crystal lattice image is acquired by a STEM detector 17 and an image analysis section 18.例文帳に追加
試料搭載部１６の上に結晶格子間隔が既知の単結晶試料２０を搭載し、ＳＴＥＭ検出器１７及び画像解析部１８により結晶格子像を取得する。 - 特許庁
To provide an electron beam device not requiring skill of a user represented by a scanning electron microscope suitable for obtaining a dark-field STEM image.例文帳に追加
ユーザの熟練を必要とせずに高コントラストな暗視野ＳＴＥＭ像を得るのに好適な走査電子顕微鏡に代表される電子線装置を提供する。 - 特許庁
In the fixing device 6 for heating and conveying a toner image transferred to a recording medium 1 and fixing the toner image on the recording medium 1, superheated stem is generated from the heat source.例文帳に追加
記録媒体１に転写されたトナー像を加熱、および、搬送を行い記録媒体１に固着させる定着装置６の構造であり、熱源から過熱水蒸気が発生される構造である。 - 特許庁
To provide a stem for semiconductor devices and a manufacturing method of the stem wherein no grain lump is generated in its heat sink in spite of adopting the heat sink made of a copper material having a high thermal conductivity, and the flatness of the mounting surface of the heat sink can be inspected easily by an image analysis.例文帳に追加
熱伝導率の高い銅材から成るヒートシンクを採用しながら、ヒートシンクに結晶粒塊を生じさせることなく、画像解析により容易に前記搭載面の平面度を検査することができる半導体装置用ステムおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
The hermetically sealed package 11 for sealing a solid state image sensor 15 and a Peltier element 17 for cooling the solid state image sensor 15 hermetically comprises a stem 21 provided with a protrusion 33 projecting from the upper surface and being coupled thermally with the Peltier element 17, and a cap 19 covering the solid state image sensor 15 and the Peltier element 17 and having an opening 26 bonded hermetically to the stem 21.例文帳に追加
気密封止パッケージ１１は、固体撮像素子１５、及び固体撮像素子１５を冷却するためのペルチェ素子１７を気密に収容するものであって、上面から突出するよう突出部３３が設けられ当該突出部３３にペルチェ素子１７が熱的に接続されているステム２１と、固体撮像素子１５及びペルチェ素子１７を覆い開口部２６がステム２１に気密に接合されているキャップ１９とを備える。 - 特許庁
To realize a computing means which can optimize an amount of focal gap in STEM and which can erase a virtual image and receive a feedback of a condition by substantially shortening the period of time to obtain a computed image and by comparing an image of an electron microscope to the computed image right after observation in an observation method and an observation equipment by a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加
走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置に関し、ＳＴＥＭに於ける焦点ずれ量の最適化や虚像の消去を可能にする計算手段を実現し、そして、計算像を得る為の時間を大幅に短縮して電子顕微鏡像を観察直後に計算像と比較して条件をフィードバックできるようにする。 - 特許庁
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