重欠陥の英語

欠陥の見逃しや、近接した欠陥の画像の重なりを防止して、欠陥計数誤差が低減する。例文帳に追加

To reduce defect count errors by preventing defects from being overlooked, and the images of close defects from being overlapped. - 特許庁

検査対象物について、複数の欠陥検出手段によって欠陥検出処理を行った場合に、重複して検出された欠陥を判定することができる欠陥検査装置及び欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for inspecting defects capable of determining overlapping defects in the case that defect detection processing is performed on an object to be inspected by a plurality of defect detection means. - 特許庁

検査対象物について、複数の欠陥検出手段によって欠陥検出処理を行った場合に、重複して検出された欠陥を判定することができる欠陥検査装置及び欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for inspecting defect capable of judging the defect detected in duplication when a defect detecting processing is performed by a plurality of defect detecting means for an object to be inspected. - 特許庁

欠陥修正装置が備える欠陥検出部により多層基板における繰り返しパターン内の欠陥を検出し、欠陥検出部で検出された欠陥が層間ショート欠陥の発生が想定される領域に重なる場合、欠陥修正装置が備える制御部３０１により層間ショート欠陥用の欠陥修正手法に対応するオブジェクトを生成する。例文帳に追加

Defects in repetitive patterns in a multilayer substrate are detected by a defect detection part provided in the defect correcting device, and when the defects detected by the defect detection part overlap with a region where an occurrence of the interlayer short-circuit defect is assumed, a control part 301 provided in the defect correcting device generates an object corresponding to a defect correction technique for the interlayer short-circuit defect. - 特許庁

制御装置が、欠陥検出データの各々に登録されている欠陥の位置情報に基づいて、同一の欠陥が少なくとも２つの欠陥検出データに重複して登録されているか否かを判定し、重複して登録されていると認定される欠陥を重複欠陥と認定する。例文帳に追加

A control device determines whether or not the same defect is registered repeatedly into at least two defect detection data, based on position information of each defect registered in the defect detection data respectively, and acknowledges that a defect acknowledged to be registered repeatedly is a repeated defect. - 特許庁

非点灯検査部で特定した欠陥位置と点灯検査部で特定した欠陥位置とが重なる位置を真の欠陥位置と判定する。例文帳に追加

The position on which a defect position specified by the non-lighting inspection part is superimposed on a defect position specified by the lighting inspection part is decided as a real defect position. - 特許庁

④Ｄ評価は、管理態勢に欠陥または重大な欠陥が認められる状態。例文帳に追加

iv) Grade D implies that a defect or serious defect has been found in the system of controls.発音を聞く  - 金融庁

読み出した欠陥修正方法は、欠陥画像３４と重ねて表示装置に表示する。例文帳に追加

The read defect correction method is superimposed with the defect image 34 and displayed. - 特許庁