雑音試験の英語

上記の性能評価試験においてエコーリターンパスのインパルス応答を白色雑音を用いて求めるようにしても良い。例文帳に追加

The impulse response of the echo return path may be obtained by using white noise in the performance evaluation test. - 特許庁

光ファイバに入射させる光パルスのパワーが変動する場合であっても波形歪みや雑音を抑制することができ、高い精度で試験を行うことができる光パルス試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an optical pulse testing device capable of suppressing waveform distortion or a noise, even when power of an optical pulse entering an optical fiber is fluctuated, and performing a test with high accuracy. - 特許庁

これにより、受信電力に応じて初期送信電力を定める試験移動機１０９からの初期送信電力の上昇を図り、外来雑音のある環境下においても試験移動機１０９の呼接続を行なえるようにする。例文帳に追加

Thus, initial transmission power from the testing mobile equipment 109 which determines the initial transmission power corresponding to the reception power is elevated, and the call connection of the testing mobile equipment 109 is performed even under an environment with the external noise. - 特許庁

外来雑音等の影響により、無線基地局での受信電力が高い状態にある場合においても、外来雑音による影響を受けることなく、無線基地局の正常性を試験する。例文帳に追加

To test the normality of a wireless base station without being affected by external noise even in the case of being in the state that reception power in the wireless base station is high due to the influence of the external noise or the like. - 特許庁

半導体試験装置より出力された変調信号を増幅して出力する低雑音増幅器より出力される信号が供給されるとともに、低雑音増幅器により増幅された後に直交復調処理された変調信号を半導体試験装置用基板の伝送路に対して出力する増幅器に入力される信号が供給される試験回路をＲＦチップに備える。例文帳に追加

A RF chip is provided with a testing circuit to which signals output from a lower-noise amplifier that amplifies and outputs modulation signals output from a semiconductor device are supplied and to which signals input to an amplifier that outputs the modulation signals processed by orthogonal demodulation after amplified by the low-noise amplifier to the transmission channel of a substrate for the semiconductor testing device are supplied. - 特許庁

小型のデバイスのフリッカ雑音の特性を明らかにするために、測定システムの構成素子の周波数応答特性を良好にしたり、このシステムに悪影響を及ぼすおそれのある電気雑音を排除又は制御したり、試験状態にあるデバイスに対する直流測定を正確にしたフリッカ雑音試験システムを提供する。例文帳に追加

To provide a flicker noise test system that improves frequency response characteristics of measurement system components to ascertain characteristics of flicker noise of smaller devices, eliminates or controls electrical noise that may inversely affect the system and ensures the accuracy of DC measurements for the device under test. - 特許庁

近似誤差算出手段４１は位相雑音特性Ｒ、Ｒ′の差を近似誤差Ｅとして求め、仮想特性算出手段４２は位相雑音特性Ｍを近似誤差Ｅで補正して、解析対象機器１が位相雑音特性Ｒの試験信号を受けたと仮定したときに出力する信号の仮想位相雑音特性Ｍ′を算出する。例文帳に追加

An approximate error calculating means 41 obtains a difference of the characteristics R and R' as an approximate error E, and a virtual characteristics calculating means 42 corrects the characteristics M by an error E, and calculates virtual phase noise characteristics M' of the signal output, when it is assumed that the equipment 1 has received the test signal of the characteristics R. - 特許庁

一つのコンピュータに実装された方法は、検査システムの散乱半球全体に亘って、光散乱検査システムによって試験体および試験体の電位欠陥に対して取得されるであろうデータに対して、信号対雑音比値の三次元マップを決定することを含んでいる。例文帳に追加

The method mounted on one computer includes the determination of the three-dimensional map of a signal-to-noise ratio value to a test piece and data to be acquired for the potential defect of the test piece by the light-scattering inspection system over the entire scattering hemisphere of the inspection system. - 特許庁