HI testとは 意味・読み方・使い方

HI-FIX BOARD CLAMPING DEVICE FOR TEST HANDLER例文帳に追加

テストハンドラ用ハイフィックスボードクランプ装置 - 特許庁

Hi, michael, it might be time now to start thinking about... performing some nofire engine burn test.例文帳に追加

マイケル そろそろ考えてくれ エンジン燃焼シュミレーション - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

When a burn-in test is set, a test control signal SW is input to a booster switch control circuit 15, a Hi signal is output from an inverter 22 and nodes B, D are fixed to the Hi level.例文帳に追加

バーンインテストが設定されると、テスト制御信号ＳＷがブースト切り替え制御部１５に入力されてインバータ２２からＨｉ信号が出力され、ノードＢ，ＤがＨｉレベル固定される。 - 特許庁

It is determined within an LSI that a terminal which can not have Hi-Z (high impedance) during normal use by a user has Hi-Z (high impedance) at the time of testing and then the LSI goes into a test mode.例文帳に追加

通常ユーザーが使用時にはＨｉ−Ｚになり得ない端子が、検査時にＨｉ−ＺであることをＬＳＩ内部で判別してテストモードに移行するように構成したものである。 - 特許庁

At scan shift operation, a signal of a signal level Hi is inputted to an operation mode switching signal input terminal SE of a selector 29 to select a scan test signal of SI.例文帳に追加

スキャンシフト動作時は、セレクタ２９の動作モード切替信号入力端子ＳＥに信号レベルＨｉの信号を入力してＳＩのスキャンテスト信号を選択する。 - 特許庁

When this voltage reduction detection circuit 6 is tested, a test signal is inputted into a test signal input terminal 8, a test signal T1 for Hi and a test signal T2 for Low are inputted into the measurement result output circuit 11, and the signals L1, L2 are logically computed in the measurement result output circuit 11 and are outputted from the monitor terminal 9 in time series.例文帳に追加

このような半導体集積回路装置１の減電圧検出回路６をテストするとき、テスト信号がテスト信号入力端子８に入力されて、Ｈｉのテスト信号Ｔ１及びＬｏｗのテスト信号Ｔ２が測定結果出力回路１１に入力され、信号Ｌ１，Ｌ２が測定結果出力回路１１で論理演算されて時系列的にモニター端子９より出力される。 - 特許庁

A Pos type F/F 100 has: a master latch (Low level latch) 110 which is synchronized with a rising edge of a clock and in which data or scan test data is selectively input; and a slave latch (Hi level latch) 111 in which the data from the master latch 110 is input.例文帳に追加

ＰｏｓタイプＦ／Ｆ１００は、クロックの立ち上りエッジ同期し、データ又はスキャンテストデータが選択的に入力されるマスタラッチ（Ｌｏｗレベルラッチ）１１０と、マスタラッチ１１０からのデータが入力されるスレーブラッチ（Ｈｉレベルラッチ）１１１とを有する。 - 特許庁