PRECISION MEASURING EQUIPMENTとは 意味・読み方・使い方

To provide equipment and a method for measuring wave aberration with high precision without using actual wavelength.例文帳に追加

実波長を用いることなく、光学系の波面収差を高精度に測定することができる収差測定装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a dimension-variable end measure capable of making continuously changing calibration dimensions continuously change for precision calibration of length measuring equipment, in general.例文帳に追加

長さ測定機器全般の精度校正用として、校正寸法を連続的に変化させることを可能にする寸法可変式の端度器を提案すること。 - 特許庁

To provide a variable-angle measuring equipment for improving precision in the measurement of a reflection factor.例文帳に追加

本発明の目的は、反射率測定の高精度化が図られる角度可変測定装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a bag which prevents an electronic equipment like a notebook computer, or precision machines like a measuring machine from getting vibration or shock while carrying them.例文帳に追加

ノートパソコン等の電子機器や測定器等の精密機械などの機器を持ち運ぶ際に、これら機器に振動や衝撃を与えないようにする。 - 特許庁

To provide a measuring method stably measuring in high precision by suppressing fluctuations of the measured value with respect to an operation feel measuring method of a tilted operation type switch mounted on an electronic equipment.例文帳に追加

電子機器に搭載される傾倒操作型スイッチの動作感触測定方法に関し、測定値のばらつきを抑え、安定して精度の高い測定ができる測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

LIGHT EMISSION SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD, DROPLET MATERIAL SPOTTING PRECISION TEST SUBSTRATE FOR LIGHT EMISSION SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD, METHOD OF MEASURING DROPLET MATERIAL SPOTTING PRECISION, ELECTROOPTICAL DEVICE AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器 - 特許庁

To provide a floor structure for semiconductor manufacturing equipment which can provide at low cost a low-vibration environment for installation of precision manufacturing machine or precision measuring instrument and accommodates easily to change of installation places for such machine or instrument.例文帳に追加

安価に精密製造装置や精密計測装置等を設置するための低振動の環境が得られ、しかもそれらの装置の設置場所変更に容易に対応ができる半導体製造施設の床構造を提供すること。 - 特許庁

To provide a light emission substrate and its manufacturing method, to provide a droplet material spotting precision test substrate for light emission substrate and its manufacturing method, to provide a method of measuring droplet material spotting precision, to provide an electrooptical device comprising the light emission substrate, and to provide electronic equipment comprising the electrooptical device.例文帳に追加

発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器を提供する。 - 特許庁