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Particle Systemsとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 パーティクル手法
「Particle Systems」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 19件
To provide improved cathode arc deposition systems with improved macro-particle filtering.例文帳に追加
マクロ粒子のフィルタ処理を改良した改良型の陰極アーク蒸着システムを提供する。 - 特許庁
The invention further relates to various types of ultrafine particle sensors and air handling systems.例文帳に追加
本発明はさらに、様々な種類の超微粒子センサ及び空気処理システムにも関する。 - 特許庁
The scaling rate S in the Z-axial direction of a particle coordinate system is adjusted according to movement information of a particle generation source and then the particle coordinate systems are connected.例文帳に追加
パーティクル座標系のZ軸方向でのスケーリング率Sを、パーティクル発生源の移動情報に基づき調整することで、パーティクル座標系同士を連結させる。 - 特許庁
The charged particles beam irradiation device 10 is provided with the plurality of charged particle beam sources 6 in order to generate the charged particle beams, and electron optical systems (2, 3, 4) to converge the plurality of charged particle beams B onto the sample 5, which were generated from the plurality of charged particle beam sources 6.例文帳に追加
荷電粒子ビームを発生させるための複数の荷電粒子ビーム源6と、複数の荷電粒子ビーム源6から発生された複数の荷電粒子ビームBを試料5上に収束させるための電子光学系(2、3、4)とを備えた荷電粒子ビーム照射装置10である。 - 特許庁
METHODS AND SYSTEMS OF ENGINEERING ANALYSIS USING HYBRID APPROACH OF FINITE ELEMENT METHOD (FEM) AND ADAPTIVE SMOOTHED PARTICLE HYDRODYNAMICS (SPH)例文帳に追加
有限要素法(FEM)および適応性のあるSPH法(適応SPH法)のハイブリッドアプローチを用いる工学解析の方法およびシステム - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEMS, PARTICULARLY MASS FILTER FOR ION BEAM SYSTEM AND WIDE APERTURE WIEN E×B MASS FILTER例文帳に追加
大開口のウィーンE×B質量フィルタ本発明は、荷電粒子ビームシステムに関し、特に、イオンビームシステムのための質量フィルタに関する。 - 特許庁
To secure irradiation accuracy and safety even when a charged particle beam emitting device has irradiation devices of different irradiation systems.例文帳に追加
異なる照射方式の照射装置を有する場合であっても、照射精度及び安全性を確保する。 - 特許庁
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Weblio例文辞書での「Particle Systems」に類似した例文 |
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particle systems
the systematics of fungi
the cramming system
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太陽系.
the planetary system
the metric system
the skeletal system
the decimal system
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the limbic system
素粒子.
微粒子.
「Particle Systems」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 19件
Plural sets of particle coordinate systems which are connected to each other are generated to represent explosion.例文帳に追加
互いに連結されたパーティクル座標系のセットを複数セット生成することで爆発を表現する。 - 特許庁
Pieces of specific information of particle coordinate systems C0 to C3 where particles are arranged locally are generated so that respective particle coordinate system are coupled with one another.例文帳に追加
複数のパーティクルがローカルに配置されるパーティクル座標系C0〜C3の特定情報を、各パーティクル座標系同士が互いに連結するようにしながら、リアルタイムに生成する。 - 特許庁
To provide a charged particle beam irradiation device provided with a charged particle beam source constituted of a plurality of reduced optical systems of the charged particle beam sources, and the charged particle beam irradiation device in which the plurality of charged particle beams are reduced and overlapped on a sample face and in which one piece of spot can be formed.例文帳に追加
荷電粒子ビーム源の複数の縮小光学系から構成された荷電粒子ビーム源を備える荷電粒子ビーム照射装置であって、試料面上では、複数の荷電粒子ビームが縮小され、かつ重畳されて、1個のスポットを形成することができる荷電粒子ビーム照射装置を提供する。 - 特許庁
When first bottom B1 exists in the spatial intensity distribution of diffraction-scattered light from the measuring particle group measured by measuring optical systems (3, 4, 5, 6), the spatial intensity distribution data of the diffraction-scattered light from small angle side to that first bottom B1 is used to compute the particle size distribution.例文帳に追加
測定光学系(3,4,5,6)により測定された被測定粒子群による回折・散乱光の空間強度分布に、ファーストボトムB1が存在している場合には、小角度側からそのファーストボトムB1までの回折・散乱光の空間強度分布データを用いて粒度分布を算出する。 - 特許庁
Embodiments for the methods, storage media, and systems include configurations for performing one or more of the following steps: background signal measurement; particle identification using classification dye emission and cluster rejection; inter-image alignment; inter-image particle correlation; fluorescence integration of reporter emission; and image plane normalization.例文帳に追加
この方法、記憶媒体、システムの実施形態は、背景信号測定と、分類染料放射及びクラスタ拒絶を使用する粒子識別と、画像間整列と、画像間粒子相関と、リポータ放射の蛍光積分と、画像平面正規化とのうちの1つ又は複数のステップを実行する構成を含む。 - 特許庁
To disclose systems and methods of computer aided engineering analysis using hybrid approach of a finite element method (FEM) and an adaptive smoothed particle hydrodynamics (SPH).例文帳に追加
有限要素法(FEM)と適応性のあるSPH法とのハイブリッドアプローチを用いるコンピュータ支援工学解析のシステムおよび方法を開示する。 - 特許庁
Ultraviolet radiating systems 31 and 30 are controlled by a radiation control means 32, and scanning with a charged particle beam is controlled by a scan control means 18.例文帳に追加
紫外光照射系31、30を照射制御手段32によって制御し、荷電粒子線の走査を走査制御手段18によって制御する。 - 特許庁
This is to remove a powder having a particle diameter of smaller than 1mm in order not to adversely affect the human and wild animal respiratory systems taking aerial sprinkling into consideration.例文帳に追加
これは、上空から散布することを考えた場合、ヒトや野生動物の呼吸器系に悪影響を与えないために、1mm未満の粉体は除外するためである。 - 特許庁
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