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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 専門用語対訳辞書 > Substrate Thickness Detectorの意味・解説 

Substrate Thickness Detectorとは 意味・読み方・使い方

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Weblio専門用語対訳辞書での「Substrate Thickness Detector」の意味

Substrate Thickness Detector

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「Substrate Thickness Detector」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 11



例文

A substrate 2 of the light detector 22 is formed of a low alkali glass having 0.7 mm of thickness.例文帳に追加

光検出器22の基板2は、0.7mmの厚さの低アルカリガラスよりなる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a two-dimensional image detector, which is superior in the uniformity of the film thickness and composition of a phototoconductive layer over the whole substrate, and a method of manufacturing the detector with satisfactory productivity (efficiently) and at a low cost.例文帳に追加

基板全体における光導電層の膜厚および組成の均一性に優れた二次元画像検出器、並びに、該二次元画像検出器を生産性良く(効率的に)かつ安価に製造する方法を提供する。 - 特許庁

A flow rate detector 30 and a heater 40 are formed on the diaphragm 10 formed on the cavity part 1a of a semiconductive substrate 1 and the film thickness of the flow rate detector 30 is made less than that of the heater 40.例文帳に追加

半導体基板1の空洞部1aの上に形成されたダイヤフラム10に流量検出体30とヒータ40とが形成されており、流量検出体30の膜厚がヒータ40の膜厚より薄くなっている。 - 特許庁

The semiconductor radiation detector includes a flexible substrate, a shielding plate opposing to the flexible substrate, a semiconductor crystal between a pair of the flexible substrate and the shielding plate, and a base plate provided on a side face side of the semiconductor crystal to form the semiconductor radiation detector having reduced thickness while holding sufficient assembly strength.例文帳に追加

本発明は、フレキシブル基板と、該フレキシブル基板に相対する遮蔽板と、一対の前記フレキシブル基板と前記遮蔽板の間に、半導体結晶と、該半導体結晶の側面側に設けられたベース板を備えることを特徴とする。 - 特許庁

A film thickness detector 80 acquires film thickness information indirectly showing the state of a thin film formed on a sheet film (substrate) 8 and gives the information to a control unit 3.例文帳に追加

膜厚検出器80がシートフィルム(基材)8に形成された薄膜の状態を間接的に示す膜厚情報を取得し、これを制御部3に与える。 - 特許庁

In short, the manufacturing method of this detector is a method, where after the layer 2 is formed into a prescribed film thickness on the transfer substrate, the layer 2 is transferred on the substrate 1.例文帳に追加

つまり、二次元画像検出器の製造方法は、転写基板上で所定の膜厚に光導電層2を形成した後、該光導電層2を上記アクティブマトリクス基板1上に転写する方法である。 - 特許庁

例文

A two-dimensional image detector is constituted into a structure, where the detector is provided with at least an active matrix substrate 1 having a plurality of pixel electrodes 10, etc., and a photoconductive layer 2 laminated on the electrodes 10, etc., and the layer 2 is transferred on the substrate 1, after being formed into a prescribed film thickness on a transfer substrate.例文帳に追加

二次元画像検出器は、複数の画素電極10…を有するアクティブマトリクス基板1と、上記画素電極10…に積層された光導電層2とを少なくとも備えており、上記光導電層2が、転写基板上で所定の膜厚に形成された後、上記アクティブマトリクス基板1上に転写されることにより構成されている。 - 特許庁

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「Substrate Thickness Detector」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 11



例文

The photoelectric converter 32 is provided with a photodiode 12, and a p-well 31 is overlapped in the thickness direction of the photoelectric converter 32, signal detector 33, and semiconductor substrate 30.例文帳に追加

光電変換部32にフォトダイオード12を備えておき、半導体基板30に、光電変換部32及び信号検出部33と半導体基板30の厚み方向において重なるpウェル31を形成する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing radiographic image detector which can prevent the deterioration of thin-film transistor resulting from an electrostatic charge caused by peeling when peeling a protective member, the deterioration of the light emission characteristics of scintillator, and the unevenness of a substrate thickness after polishing.例文帳に追加

保護部材を剥離する際の剥離帯電に起因する薄膜トランジスタの劣化を抑制でき、シンチレータの発光特性の劣化を抑制でき、研磨後の基板厚のムラを抑制できる放射線画像検出器の製造方法を提供する。 - 特許庁

Among these, tracking error signals TEa, TEb generated respectively from output of the optical detector 12 by the reflection light beams 63a, 63b of the ± primary light beams 53a, 53b are calculated and a signal SE corresponding to the thickness error of the transparent substrate 8a of the optical disk 8 is obtained.例文帳に追加

このうち、±1次光53a,53bの反射光63a,63bによる光検出器12の出力からそれぞれ生成されたトラッキング誤差信号TEa,TEbを演算して、光ディスク8の透明基板8aの厚み誤差に対応した信号SEを得る。 - 特許庁

例文

Consequently output variation of the optical detector is suppressed to small, even if the stray light interference fringe shifts on the light receiving surface caused by inclination of an optical disk, temporal change of an optical axis, thickness variation or birefringence distribution variation, etc. of an optical disk substrate.例文帳に追加

よって、光ディスク傾きや光路長の時間的変化、あるいは、光ディスク基板の厚さむらや複屈折分布むら等に起因して、迷光干渉縞が受光面上においてシフトしても、光検出器の出力変動は小さく抑制される。 - 特許庁

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「Substrate Thickness Detector」の意味に関連した用語

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