TEST LEADとは 意味・読み方・使い方

To provide a lead acid storage battery whose performance to idling stop (IS) life test and performance to light-load life test are both good.例文帳に追加

アイドリングストップ（ＩＳ）寿命試験に対する性能と軽負荷寿命試験に対する性能の両方が良好である鉛蓄電池を得る。 - 特許庁

The lead wire part 22 of the test terminal 20 is directly connected also to an electrode part of an electronic component 4 of the printed circuit board 1 without being limited to the test land 6.例文帳に追加

テスト端子２０のリード線部２２はテストランド６に限らず、プリント基板１の電子部品４の電極部にも直接接続される。 - 特許庁

To provide an electrode tension test method, which can lead accurater data to an electrode tension test, a device for the electrode tension test method and a substrate/probe support device for an electrode tension test.例文帳に追加

より正確なデータを導くことのできる電極引張試験方法及びその装置並びに電極引張試験用の基板／プローブ支持装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a lead wire for test with branch box capable of obtaining electric power for test and sending a necessary control signal by using the lead wire connecting an apparatus in a case and a breaker drawn out to the outside.例文帳に追加

筐体内の機器と外部に引き出した遮断器との間を接続するリード線を利用して試験用の電力を得るとともに必要な制御信号を送出し得る分岐箱付き試験用リード線を提供する。 - 特許庁

The probe 10 for a semiconductor device comprises a double- conical test pin 1 to contact a semiconductor wafer, a lead pin arm 2 for rotatably supporting the test pin 1 and electrically connecting to the test pin 1, a frame 3 for turnably supporting the lead pin arm 2 with a spring 4 and a lead wire 5 for electrically connecting the lead pin arm 2 to a tester.例文帳に追加

半導体ウェーハに接触させるそろばん珠形状のテストピン１と、テストピン１を回転自在に支持するとともに、テストピン１と電気的接続をとるためのリードピンアーム２と、リードピンアーム２を回動自在に支持するフレーム３およびバネ４と、リードピンアーム２とテスター装置との電気的接続をとるためのリード線５と、からなる半導体用プローブ１０。 - 特許庁

To provide a polishing tool capable of performing correctly semiconductor IC characteristic determination by removing effectively a solder scrap adhering to a contact pin used for a test performed in a form of a lead frame or a test after cutting the lead frame rectangularly, in an electric characteristic test of the semiconductor IC.例文帳に追加

半導体ＩＣの電気特性試験において、リードフレームの形態で行うテストや、リードフレームを短冊状に切断した後のテストで使用するコンタクトピンに付着する半田屑などを有効に除去し、半導体ＩＣ特性判定を正しく行う事が出来る研磨冶具を提供する。 - 特許庁

The generated test case is automatically executed by the test case launcher or manually selected by a user so as to lead to a test execution result.例文帳に追加

生成されたテスト・ケースは、テスト実行結果をもたらすために、テスト・ケース・ランチャによって自動的に実行されるか、またはユーザによって手動で選択される。 - 特許庁

To provide a contact assembly for electrically connecting an integrated circuit device lead with a corresponding load board pad of a test apparatus.例文帳に追加

集積回路素子のリードを検査装置の対応するロードボードパッドと電気的に接続するコンタクトアセンブリを提供する。 - 特許庁