alpha irradiationとは 意味・読み方・使い方

Irradiation from an alpha source or ion implantation techniques may be used.例文帳に追加

アルファ源からの照射またはイオン注入技術を使用することができる。 - 特許庁

COMBUSTION IMPROVING METHOD AND COMBUSTION IMPROVING SYSTEM USING RADIATION IRRADIATION BY ALPHA DECAY例文帳に追加

α崩壊による放射線照射を利用した燃焼改善方法および燃焼改善装置 - 特許庁

To provide a static eliminator using alpha rays enabled to make atmospheric ions ionized by alpha-ray irradiation efficiently in contact with an object for static elimination, while surely avoiding a state in which with the alpha rays radiated from an alpha-ray source, the object for static elimination is directly irradiated.例文帳に追加

α線源から照射されるα線が除電対象物に直接照射される事態を確実に回避しつつも、α線照射により電離生成される雰囲気イオンを効率よく除電対象物に接触させることを可能としたα線を用いた除電装置を提供することを提供すること。 - 特許庁

To provide a static eliminator using alpha rays that is restrained in recombination among atmospheric ions generated by alpha-ray irradiation, and thereby made able to carry out efficient static elimination.例文帳に追加

α線照射により生成される雰囲気イオン同士の再結合の抑制を図り、もって、効率の良い除電を行えるようにしたα線を用いた除電装置を提供すること。 - 特許庁

Each of game characters 100 and 110 of the video game is divided for each of parts such as head, arms and legs, the intensity of irradiation with light is obtained for each of parts by light source calculation and an alpha value is obtained corresponding to the intensity of irradiation with light.例文帳に追加

テレビゲームのゲームキャラクタ１００，１１０を頭、腕、脚等のパーツ毎に分け、各パーツ毎に光源計算により光の当たる強さを求め、その光の当たる強さに応じたアルファ値を求める。 - 特許庁

To provide a static eliminator using alpha rays that can bring atmospheric ions of a reverse polarity to a charged load on the surface of an object for static elimination efficiently into contact with the object for static elimination, out of atmospheric ions ionized by alpha-ray irradiation.例文帳に追加

α線照射により電離生成される雰囲気イオンの内、除電対象物表面の帯電電荷と逆極性の雰囲気イオンを効率よく除電対象物表面に接触させることを可能としたα線を用いた除電装置を提供すること。 - 特許庁

The polarization (alpha)(an angle (alpha) from s-polarization) of light irradiated to a sample, an object under defect detection, is calculated by substituting the condition of the circuit pattern of the sample, and the azimuth angle, and incident angle of irradiation light into a prescribed formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁