circuit under testとは 意味・読み方・使い方

To verify a logic circuit under test by simulation at high speed.例文帳に追加

被テスト回路としての論理回路のシミュレーション検証を高速に実行する。 - 特許庁

A static power current IDDQ is measured at a plurality of strobe points with application of a test signal to a CMOS integrated circuit 50 under test.例文帳に追加

試験対象のＣＭＯＳ集積回路５０にテスト信号を印加して静止電源電流Ｉ_DDQ を複数のストローブ点で測定する。 - 特許庁

Accordingly, it becomes possible to test the test block A regionally under a different distribution in voltage drop of the regions inside the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

よって半導体集積回路装置内部を、領域ごとに異なる電圧降下分布として試験ブロックＡの試験を行う事が可能となる。 - 特許庁

To provide a bit-compressed test pattern to a scanning chain of a circuit under a test, and to handle test patterns of different scanning chain lengths when a decompressed test pattern thereof is applied to the scanning chain.例文帳に追加

テスト中回路中の走査チェーンにビットの圧縮したテストパターンを提供し、これが解凍されたテストパターンを走査チェーンに適用するに際して、異なる走査チェーンの長さのテストパターンを扱えるようにする。 - 特許庁

A BIST circuit 3 which tests the logic circuit 4 under test comprises a control circuit 11, a test pattern generation circuit 12, a first pattern generation circuit 13, a second pattern generation circuit 14, a signal compression pattern generation circuit 15 and a failure detection analysis circuit 16.例文帳に追加

被テスト回路である論理回路４をテストするＢＩＳＴ回路３には、制御回路１１、テストパターン発生回路１２、第１のパターン生成回路１３、第２のパターン生成回路１４、信号圧縮パターン生成回路１５、及び故障検出解析回路１６が設けられる。 - 特許庁

The adapter device for an IC tester, which is detachably electrically connected to a test head and electrically connected to a target under test, has an exclusive OR circuit for subjecting a plurality of digital signals from the test head to an exclusive OR operation and outputting the result to the target under test.例文帳に追加

本発明は、テストヘッドに着脱可能に電気的に接続し、被試験対象に電気的に接続するＩＣテスタのアダプタ装置であって、テストヘッドからの複数のデジタル信号を排他的論理和して被試験対象に出力する排他的論理和回路を有することを特徴とするものである。 - 特許庁

To provide a voltage margin test circuit capable of operating an electronic device under test as a primary device function, capable of controlling it from a voltage margin test means at the time of a test, and provided with a deterioration preventing structure on the test means itself.例文帳に追加

試験される電子装置が本来の装置機能として動作できると共に、試験時には電圧マージン試験手段から制御可能とし、かつ試験手段そのものが劣化防止構造を備えた電圧マージン試験回路と劣化診断装置。 - 特許庁

The test of a lightning surge protection circuit which is built in a protection circuit 12 is executed under the instruction from a central control part 14.例文帳に追加

保護回路１２に内蔵されている雷サージ保護回路の試験を中央制御部１４からの指示により実行する。 - 特許庁