compound defectとは 意味・読み方・使い方

To achieve the epitaxial growth of a low defect compound semiconductor crystal on an Si substrate with no dislocation.例文帳に追加

Ｓｉ基板上への無転位で低欠陥な化合物半導体結晶のエピタキシャル成長を実現する。 - 特許庁

To control sublimability being a defect of hinokitiol and to utilize hinokitiol without impairing excellent antimicrobial properties and mildew resistance of hinokitiol by developing a means for efficiently combining hinokitiol with a polymer compound in which no means for combining hinokitiol with the polymer compound is conventionally known at all, especially a polycarboxylic acid compound.例文帳に追加

アクリル酸、メタアクリル酸、無水マレイン酸等のホモポリマー、及びこれらとのコポリマー等のポリカルボン酸にヒノキチオールをうまく結合出来る手段を開発すること - 特許庁

To provide a compound semiconductor thin film evaluation device which can detect a partial defect in a compound semiconductor thin film and inspect the whole of the compound semiconductor thin film.例文帳に追加

化合物半導体薄膜の部分的な欠陥の検出と化合物半導体薄膜全体の検査が可能となる化合物半導体薄膜の評価装置を提供すること。 - 特許庁

While removing the surface defect layer of the anode 16 the inorganic compound can maintain a state in which the surface defect is removed.例文帳に追加

スパッタ処理により、陽極１６の表面不良層を除去しつつ、無機化合物によって、表面不良層が除去された状態を保持させることが可能である。 - 特許庁

To prevent heat-originated defect in a semiconductor layer containing a compound semiconductor when fabricating a concentrated photovoltaic solar power generation module having compound solar cells using the compound semiconductor.例文帳に追加

化合物半導体を用いる化合物太陽電池セルを備えた集光型光発電モジュールを構成する際に、化合物半導体を含む半導体層に熱による欠陥が生じることを防ぐ。 - 特許庁

To provide a simple and efficient method for separating a zirconium compound and a hafnium compound, which method is particularly useful for preparing a hafnium compound of a low zirconium content and is free from a defect associated with a prior art method.例文帳に追加

ジルコニウム化合物とハフニウム化合物を分離するための、特に低ジルコニウムのハフニウム化合物を生成するための、前記の欠点を有さない簡単かつ効率的な方法を提供する。 - 特許庁

The surface of the current collector base material 1 exposed from a defect 3 existing on the corrosion resistant coating film 2 is characterized by being covered with a passive state coating film 4 composed of one kind or two or more kinds among a fluorine compound, an oxygen compound, a nitrogen compound, a carbon compound, a phosphorus compound and a boron compound of the current collector base material 1.例文帳に追加

耐食性皮膜２に存在する欠陥３から露出する集電体基材１の表面は、該集電体基材１のフッ素化合物、酸素化合物、窒素化合物、炭素化合物、リン化合物、ホウ素化合物のうちの一種又は二種以上からなる不動態皮膜４で覆われていることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a defect detector suitable for detecting a defect, such as a void on the bonded interface of transparent substrates composed of a compound semiconductor, which are bonded directly, and a defect detection system capable of surely removing the defect portion in a chip appearance inspection after chip process completion and a defect detection method.例文帳に追加

直接接合により貼り合わされた化合物半導体からなる透明基板の貼り合わせ界面のボイド等の欠陥を検出するのに好適な欠陥検出装置、更にチッププロセス終了後のチップ外観検査において該不良部を確実に取り除くことができる欠陥検出システムおよび欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁