computer-integrated manufacturingとは 意味・読み方・使い方

To provide a liquid crystal display device integrated type memory capable of tinning the main body of a computer and capable of reducing the manufacturing cost of a memory and, moreover, capable of being used suitably as buffer of various input/output data as well, and a computer which is mounted with the memory.例文帳に追加

コンピュータ本体の薄型化を図り、メモリの製造コストを低減することができ、さらに各種入出力データのバッファとしても好適に使用できる液晶表示装置一体型メモリおよびこれを搭載したコンピュータを提供する。 - 特許庁

CIRCUIT OPERATION VERIFICATION DEVICE, CIRCUIT OPERATION VERIFICATION METHOD, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, CONTROL PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM例文帳に追加

回路動作検証装置、回路動作検証方法、半導体集積回路の製造方法、制御プログラム、およびコンピュータ読み取り可能な可読記憶媒体 - 特許庁

MICROPROCESSOR, INTEGRATED CIRCUIT MODULE INCLUDING MICROPROCESSOR, ELECTRONIC DEVICE, COMPUTER, METHOD FOR OPERATING AND MANUFACTURING MICROPROCESSOR, AND DATA STRUCTURE FOR MICROPROCESSOR例文帳に追加

マイクロプロセッサ、マイクロプロセッサを含む集積回路モジュール、電子デバイス、及びコンピュータ、マイクロプロセッサの動作方法及び製造方法、並びに、マイクロプロセッサのためのデータ構造 - 特許庁

To provide a method, apparatus and computer program for performing simulation of influence of a manufacturing process to electrical performance in the integrated circuit during design stage.例文帳に追加

設計段階中の集積回路の電気性能への製造プロセスの影響のシミュレーションを行なうための方法、装置及びコンピュータ・プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a design method and design device of a semiconductor integrated circuit for minimizing power consumption in a clock signal part while minimizing a clock skew under manufacturing variation and to provide a computer program.例文帳に追加

製造バラつきの下で、クロックスキューの最小化しつつ、クロック信号部での消費電力を最小化する半導体集積回路の設計方法、設計装置および、コンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

The manufacturing device 12 is configured by combining a plurality of units 122 inside a case, and incorporated with an integrated computer 124 for controlling each of the units 122, based on a device parameter group D12.例文帳に追加

製造装置１２は、筐体の内部で複数のユニット１２２を組み合わせて構成されるとともに、装置パラメータ群Ｄ１２に基づいてユニット１２２の各々を制御する組み込みコンピュータ１２４を内蔵している。 - 特許庁

CURRENT MEASURING METHOD, CURRENT MEASURING PROGRAM, MEASURING DEVICE AND ELECTRONIC COMPUTER RUNNING ABOVE PROGRAM, MANUFACTURING APPARATUS EQUIPPED WITH THEM, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ELECTRONIC EQUIPMENT EQUIPPED WITH MEANS CARRYING OUT ABOVE CURRENT MEASURING METHOD例文帳に追加

電流測定方法、電流測定プログラムとこれを実行する測定器および電子計算機とこれらを備えた製造装置、電流測定方法を実行する手段を備えた半導体集積回路および電子機器 - 特許庁