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corrected output testとは 意味・読み方・使い方
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「corrected output test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 6件
The sub-driver control circuit 20 performs correction control of a test pattern signal output from a waveform formatter 12 based on a control signal, and outputs a corrected test pattern signal to the sub-driver SDR1.例文帳に追加
サブドライバ制御回路20は、制御信号に基づいて、波形フォーマッタ12から出力されるテストパターン信号の修正制御を行い、修正されたテストパターン信号をサブドライバSDR1に出力する。 - 特許庁
To provide an optional waveform generator and semiconductor test apparatus that can shorten the test time and acquire analog voltage where error voltage by divergence from the linearity of an output signal of a D/A converter is accurately corrected.例文帳に追加
D/A変換器の出力信号の直線性との乖離による誤差電圧を高精度に補正されたアナログ電圧を得ることができ、テスト時間を短縮できる任意波形発生器および半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁
The circuit comprises a data error correction means for comparing data with parity data to correct data, a data selection means for outputting the data or the corrected data as selected data in response to a test selection signal, and a test result output means for receiving the selected data and the parity data to output a test result signal in response to the test selection signal.例文帳に追加
本発明は、データとパリティデータを比較して修正データを出力するデータエラー修正手段、テスト選択信号に応答し、前記データ又は修正データを選択データとして出力するデータ選択手段、及び前記選択データと前記パリティデータが入力され、前記テスト選択信号に応答してテスト結果信号を出力するテスト結果出力手段を含む。 - 特許庁
A circuit coupled with each output of the first gate set judges whether or not the number of errors in the memory word under test exceeds the maximum number of errors which can be corrected by the ECC.例文帳に追加
テスト中のメモリ・ワード内の誤り数が、ECCによって訂正可能な誤りの最大数を超過するかどうかを、第1ゲート・セットのそれぞれの出力に結合された回路が判断する。 - 特許庁
In the test method of the semiconductor element 5 provided with an input/output circuit, when a writing signal conflicts with a read signal, expectation values are corrected according to a level difference between the expectation values of the writing signal and the read signal, and the corrected expectation values are compared with conflicting data for determination.例文帳に追加
入出力回路を備えた半導体素子の試験において、書き込み信号と読み出し信号とが衝突したときには、書き込み信号と読み出し信号の期待値とのレベル差により期待値を補正し、補正した期待値と衝突データとを比較判定する半導体素子の試験方法、及び半導体試験装置が得られる。 - 特許庁
In an optical disk recording/reproducing device in which, after recording test signals changing the laser beam output in the trial region on the inner surface of a disk, the laser output is adjusted by reproducing the recorded test signals, and the laser output is corrected, in this invention, based on the drive voltages applied to the focusing coil in the inner region and in the signal recording region of the disk.例文帳に追加
ディスクの内周側に設けられている試し書き領域にレーザー出力を変化させながらテスト信号を記録した後、記録されたテスト信号を再生することによってレーザー出力を設定するように構成されている光ディスク記録再生装置において、ディスクの内周位置におけるフォーカスコイルに供給される駆動電圧と信号記録位置におけるフォーカスコイルに供給される駆動電圧に基づいてレーザー出力を補正する。 - 特許庁
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