design for testとは 意味・読み方・使い方

DEVICE FOR PREPARING CIRCUIT, DEVICE FOR PREPARING TEST PATTERN, DEVICE FOR SUPPORTING DESIGN, AND METHOD OF PREPARING TEST PATTERN例文帳に追加

回路作成装置、テストパターン作成装置、設計支援装置、及びテストパターン作成方法 - 特許庁

DESIGN METHOD FOR TEST FACILITATED SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テスト容易化半導体集積回路の設計方法 - 特許庁

INTEGRATED TEST CASE LANGUAGE FOR VERIFYING HARDWARE DESIGN例文帳に追加

ハードウェア設計を検証するための統合テストケース言語 - 特許庁

TEST-FACILITATED DESIGN PROCESSOR FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト容易化設計処理装置 - 特許庁

Reliability demonstration test of nuclear design methodology for the full MOX core例文帳に追加

全MOX炉心核設計手法信頼性実証試験2） - 経済産業省

That is, design for the semiconductor device is simplified, a test time is shortened, and the test is simplified.例文帳に追加

つまり、半導体装置の設計の簡素化とテスト時間の短縮及び簡素化が可能である。 - 特許庁

To secure contact points for an in-circuit test of a test probe on a printed board without executing the additional design of a test pad.例文帳に追加

テストパッドの追加設計せずにプリント基板上におけるテストプローブのインサーキットテスト用の接触ポイントを確保する。 - 特許庁

To provide a scan test circuit for a semiconductor integrated circuit capable of shortening a scan test time, and to provide a scan test circuit design method.例文帳に追加

スキャンテスト時間を短縮する半導体集積回路のスキャンテスト回路、スキャンテスト回路設計方法を提供する。 - 特許庁