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electron distribution analysisとは 意味・読み方・使い方
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「electron distribution analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 10件
DISTRIBUTION CONDITION ANALYSIS METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE FOR MATERIAL INSIDE CAPSULE例文帳に追加
カプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法 - 特許庁
To provide an electron spin analyzer for analysis of a spin state distribution of a sample surface with high accuracy.例文帳に追加
試料表面のスピン状態分布を高精度に分析するための電子スピン分析器を提供する。 - 特許庁
To provide a scanning electron microscope capable of performing a chirality distribution in a polymer structure of protein and an analysis of a magnetic domain structure at high resolution.例文帳に追加
タンパク質等の高分子構造におけるカイラリティ分布や、磁区構造の解析を高分解能で行うことが可能な走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a lattice strain evaluation method of a crystal material for easily performing strain distribution analysis by using a scanning transmission electron microscope, and an evaluation system.例文帳に追加
走査透過型電子顕微鏡を用いて簡易に歪の分布解析を行う結晶材料の格子歪評価方法、評価システムを提供する。 - 特許庁
The sample piece 8 is set in an Auger electron spectrophotometer, and analysis in the depth direction is performed, relative to the analytical object plane 12 on the surface of the first plane 5s as an analytical region, and analysis of the elemental distribution is performed on both sides of the interface 4.例文帳に追加
試料片8をオージェ電子分光分析装置にセッティングし、第1平面5sの表面にある分析対象面12を分析領域として深さ方向の分析を行い、界面4の両側にわたって元素分布の分析を行うものとする。 - 特許庁
To perform a wider range of analysis by obtaining crystal grain boundary and its orientation data while adding a magnetic material analyzing function or the distribution inspecting function of a specific crystal orientation, in a reflected electron beam detector.例文帳に追加
反射電子線検出装置において、結晶粒界とその方位情報を得る他に、磁性材料解析機能や、特定結晶方位の分布検査機能を付加し、より広範な解析を行うことがでるようにする。 - 特許庁
An electron density distribution is found by applying the MEM structural analysis to an X-ray diffraction data obtained experimentally, and an X-ray diffraction data not observed is predicted based thereon to find the electrostatic potential.例文帳に追加
実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め,これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。 - 特許庁
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「electron distribution analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 10件
In this state, by actuating an electron gun 130 or an ion gun 140, electrons or positive ions of inactive gas is irradiated onto an MgO membrane surface of the measurement sample, energy distribution of the emitted secondary electrons is measured with an electronic spectroscope 150, and the measured data of the secondary electron spectra are sent to an analysis device 200.例文帳に追加
この状態で、電子銃130或はイオン銃140を作動させて電子或は不活性ガスの正イオンを測定試料のMgO膜表面に照射すると共に、電子分光器150で、その放出された二次電子のエネルギー分布を測定し、測定した二次電子スペクトルのデータを解析装置200に送る。 - 特許庁
A measuring surface S1 is scanned by an electron beam B2 and the detection of an electron beam back scattering diffraction pattern by a detection part 6 and the analysis of data D1 by a data processing part 9 are performed in relation to the respective pixels in the measuring surface S1 to obtain the two-dimensional distribution data K1 of a crystal orientation related to the measuring surface S1.例文帳に追加
電子ビームB2によって測定面S1を走査し、測定面S1内の各ピクセルに関して、検出部6による電子線後方散乱回折パターンの検出、及び、データ処理部9によるデータD1の解析を行うことにより、測定面S1に関する結晶方位の二次元分布データK1が得られる。 - 特許庁
In this analysis method using the electron microscope for analyzing the material distribution condition of the material inside the capsule of the observation sample including the capsule, the observation sample including the capsule is prepared by irradiating the capsule storing a compound having a polymerizing group with ultrasonic waves.例文帳に追加
カプセルを含む観察用試料のカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法であって、前記カプセルを含む観察用試料として、重合性基を有する化合物が内包されたカプセルに超音波を照射した観察用試料を用いることを特徴とするカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法。 - 特許庁
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