external test methodとは 意味・読み方・使い方

To provide a method for an external appearance test of a semiconductor chip and a probing test in a state of a wafer.例文帳に追加

ウエハの状態で半導体チップの外観検査とプロービングテストを行う方法において、外観検査が適切に行われるようにする。 - 特許庁

TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT, EXTERNAL TESTER, MEASUREMENT METHOD OF SETUP TIME, CONTROL PROGRAM, AND READABLE STORAGE MEDIUM例文帳に追加

テスト回路、集積回路、外部テスター、セットアップ時間の測定方法、制御プログラムおよび可読記憶媒体 - 特許庁

SYNCHRONIZING DRAM HAVING TEST MODE WHICH CAN PERFORM AUTOMATIC REFRESH OPERATION BY EXTERNAL ADDRESS, AND AUTOMATIC REFRESH METHOD例文帳に追加

外部アドレスにより自動リフレッシュ動作が行えるテストモードを有する同期式ＤＲＡＭ及び自動リフレッシュ方法 - 特許庁

To perform a monitor burn-in test method with a simple device requiring no external refresh circuit without reducing memory access speed of an element, in the monitor burn-in test method, and a monitor burn-in test device.例文帳に追加

モニターバーンイン試験方法およびモニターバーンイン試験装置に関し、素子のメモリアクセス速度を低下させることなく、かつ外部リフレッシュ回路を不要とした簡単な装置でモニターバーンイン試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

In this method, an error address is transmitted for an external test layer in a compressed form from an error position in a bank.例文帳に追加

この方法では、エラーアドレスは、バンクでのエラー位置から圧縮された形状で外部試験層に向けて伝送される。 - 特許庁

To provide an extraction method capable of optimizing a test pattern by increasing the number of don't care values included in an external input value in the test pattern for a logic circuit.例文帳に追加

論理回路に対するテストパターンにおける外部入力値に含まれるドントケア値の数を多くし、テストパターンの最適化を図ることが可能な抽出方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, CONTROL METHOD THEREOF FOR EXTERNAL EQUIPMENT, AND STORAGE MEDIUM STORED WITH CONTROL PROGRAM THEREOF例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can shorten the time needed to test a semiconductor device, a control method of the semiconductor test device for external equipment, and a storage medium stored with its control program.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体デバイスの試験に要する時間を短縮することを可能とする半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁