「external test method」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a test circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit, by which macro and the like of a test object can be tested without adding an external connection pin for a test which is necessary for a test.例文帳に追加

テスト時に必要となるテスト用の外部接続ピンを追加することなく、テスト対象のマクロ等をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method which can switch multistage test states only by the use of a few external connection terminals.例文帳に追加

僅かの外部接続端子の使用だけで多段のテスト状態の切り換えができるテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for an external appearance test of a semiconductor chip and a probing test in a state of a wafer.例文帳に追加

ウエハの状態で半導体チップの外観検査とプロービングテストを行う方法において、外観検査が適切に行われるようにする。 - 特許庁

TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT, EXTERNAL TESTER, MEASUREMENT METHOD OF SETUP TIME, CONTROL PROGRAM, AND READABLE STORAGE MEDIUM例文帳に追加

テスト回路、集積回路、外部テスター、セットアップ時間の測定方法、制御プログラムおよび可読記憶媒体 - 特許庁

SYNCHRONIZING DRAM HAVING TEST MODE WHICH CAN PERFORM AUTOMATIC REFRESH OPERATION BY EXTERNAL ADDRESS, AND AUTOMATIC REFRESH METHOD例文帳に追加

外部アドレスにより自動リフレッシュ動作が行えるテストモードを有する同期式ＤＲＡＭ及び自動リフレッシュ方法 - 特許庁

To perform a monitor burn-in test method with a simple device requiring no external refresh circuit without reducing memory access speed of an element, in the monitor burn-in test method, and a monitor burn-in test device.例文帳に追加

モニターバーンイン試験方法およびモニターバーンイン試験装置に関し、素子のメモリアクセス速度を低下させることなく、かつ外部リフレッシュ回路を不要とした簡単な装置でモニターバーンイン試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

In this method, an error address is transmitted for an external test layer in a compressed form from an error position in a bank.例文帳に追加

この方法では、エラーアドレスは、バンクでのエラー位置から圧縮された形状で外部試験層に向けて伝送される。 - 特許庁

To provide an extraction method capable of optimizing a test pattern by increasing the number of don't care values included in an external input value in the test pattern for a logic circuit.例文帳に追加

論理回路に対するテストパターンにおける外部入力値に含まれるドントケア値の数を多くし、テストパターンの最適化を図ることが可能な抽出方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, CONTROL METHOD THEREOF FOR EXTERNAL EQUIPMENT, AND STORAGE MEDIUM STORED WITH CONTROL PROGRAM THEREOF例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can shorten the time needed to test a semiconductor device, a control method of the semiconductor test device for external equipment, and a storage medium stored with its control program.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体デバイスの試験に要する時間を短縮することを可能とする半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

To provide a method and a device requiring no external source of sodium or other electrolyte, capable of producing a self-suppression type eluent, requiring no second suppressor column, and suited to analyzing both cation and anion in a single test sample.例文帳に追加

外部のナトリウムまたは他の電解質の源を必要としない、その場で溶離剤を生成する装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a semiconductor test method capable of measuring fluctuation of a withstand voltage of a semiconductor device caused by an external electric field.例文帳に追加

外部電界による半導体素子の耐圧の変動を測定することができる半導体試験装置および半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a thermal inspection system and method including an external flow covering a componenet under test in order to construct proper film cooling and an aerodynamical power dispersion.例文帳に追加

適切なフィルム冷却及び空力分散を構築するために供試の構成要素を覆う外部流を含む熱検査システム及び方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method which can perform a stable and accurate test even if an external signal is inputted to perform a test without connecting a crystal oscillator and shorten a test time without being affected by an oscillation start time in a testing method for measuring the current consumption of an inverter in a constant current type oscillation circuit.例文帳に追加

定電流方式の発振回路におけるインバータの消費電流を測定するテスト方法において、水晶振動子を接続することなく、外部信号を入力してテストしても、安定した正確なテストができるとともに、テスト時間も発振開始時間の影響がなく短縮できるテスト方法を提供する。 - 特許庁

This testing method of ASIC (application specific integrated circuit 100 executes a test routine 128 in an incorporated memory 120 or an external memory by using an incorporated processor 110 in the ASIC.例文帳に追加

ＡＳＩＣ（１００）のテスト方法であって、ＡＳＩＣ内の組込みプロセッサ（１１０）を用いて、組込みメモリ（１２０）または外部メモリ中のテストルーチン（１２８）を実行する。 - 特許庁

To provide a method for generating a fixed reference current without requiring an external test device and without being affected by variation of an internal process.例文帳に追加

本発明は、外部テスト装置を必要とせず且つ内部プロセス変化から悪影響を受けない、一定の基準電流を発生する方法を提供すること目的とする。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device capable of preventing lead-free solder from being attached to a contact terminal of a socket for test, when testing a semiconductor device having an external connection terminal soldered with lead-free solder by the socket for test.例文帳に追加

鉛フリー半田でめっきされた外部接続端子を有する半導体装置をテスト用ソケットにより検査する際に、テスト用ソケットの接触端子に鉛フリー半田が付着するのを防ぐことができる半導体装置の検査方法を得る。 - 特許庁

To acquire detailed and highly-reliable test results by discriminating whether electric test results depend on an external factor of a semiconductor chip or an internal factor, extremely easily and reliably by a simple switching operation, with a comparatively simple constitution and a using method.例文帳に追加

比較的簡易な構成、及び使用方法で電気的試験の結果が半導体チップの外的要因によるか、或いは内的要因によるかを簡易な切り換え動作で極めて容易且つ確実に判別し、精緻で信頼性の高い試験結果を得る。 - 特許庁

To provide a method and a device for entering the test mode of a semiconductor memory device using an internal clock signal for reflecting the change of an external clock only when predetermined conditions are satisfied.例文帳に追加

所定条件が満たされる場合にのみ外部クロックの変化を反映する内部クロック信号を用いる半導体メモリ装置のテストモード進入方法及び進入装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for screening laminated ceramic capacitors that can test whether the laminated ceramic capacitors have connection defects between internal and external electrodes, within a relatively short period of time.例文帳に追加

比較的短時間で、内部電極と外部電極との間に接続不良のある積層セラミックコンデンサを判定することができる、積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法を得る。 - 特許庁

To provide a fully on-chip wafer level burn-in test circuit and a method thereof, which enables wafer burn-in to be tested by using an external supply voltage and an external signal (WBI) and generating a voltage for a stress screen within the chip.例文帳に追加

本発明は、外部供給電圧と外部信号（WBI）を利用してストレススクリーン用電圧をチップ内部で発生してウェハバーンインテストを行うことを可能にしたフーリオンチップ・ウェハレベル・バーンインテスト回路及びその方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a method, device and program for generating a test pattern, capable of generating the test pattern efficiently, even when a number of pads are connected with other semiconductor chips in more internal parts than pads connected to external terminals and are not connected to the external terminals, concerning a multichip semiconductor device having a plurality of semiconductor chips built in.例文帳に追加

複数の半導体チップを内蔵するマルチチップ半導体装置において、外部端子に接続されるパッドより内部で他の半導体チッブに接続され外部端子には接続されないパッドが多い場合にも効率的にテストパターン作成を行うことができるテストパターン作成方法、作成装置、及び、作成プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide semiconductor memory elements which can reduce the test time by making a DRAM core test by a parallel input/output interface method and support various input/output information transmission rates in the multi-port memory elements communicating information with external devices by a serial input/output interface method when operating normally.例文帳に追加

正常動作時に直列入／出力インタフェース方式で外部装置と情報通信を行うマルチポートメモリ素子において、並列入／出力インタフェース方式でＤＲＡＭコアテストを実行することによってテスト時間を減少させ、且つ、様々な入／出力情報伝送処理率を支援する半導体メモリ素子を提供すること。 - 特許庁

To suppress increase in configuration required for tests and thereby shorten the test time by making execution of the tests using a MUX insertion method, without having to depend on the number of external terminals of SOC.例文帳に追加

本発明は、ＳＯＣの外部端子数に依存することなく、ＭＵＸ挿入方式におけるテストの実施を可能とし、テストに必要となる構成が大型化することを抑制し、テスト時間を短縮することを課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that can reduce the size of a package, and at the same time can improve reliability in a test, and to provide a method for manufacturing the semiconductor device that can be tested without requiring any pins for external output.例文帳に追加

パッケージサイズを縮小化出来、または同時にテストの信頼性を向上できる半導体装置を提供すること、及び外部出力用のピンを必要とせずにテストできる半導体装置の製造方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an optical communication system capable of easily performing a loop-back test of an optical signal without the need to change the connection to an external device or an optical transmission line, an optical signal transmitting/receiving method for the optical communication system, and an optical transmitting/receiving module.例文帳に追加

外部装置や光伝送路の繋ぎ換えの必要が無く、簡易に光信号のループバックテストを行うことができる光通信システム、光通信システムの光信号送受信方法及び光送受信モジュールを提供すること。 - 特許庁

This method finds preliminarily frequency distributions of respective accelerations along a lateral direction and a longitudinal direction in test course travel, and an external condition generated under a specified travel condition as to the tire attached to a specified wheel of a testing vehicle.例文帳に追加

試験コース走行時の横方向及び前後方向のそれぞれの加速度の頻度分布と、試験車両の特定車輪に装着されたタイヤについての特定の走行状態で生じる外的条件とを求めておく。 - 特許庁

To provide a coil component having a structure capable of rapidly switching from the open state of an external electrode to a short circuit state for making an evaluation test work easy and rapid, and also to provide an evaluation method of the coil component.例文帳に追加

外部電極のオープン状態からショート状態への切換を迅速に行うことができる構造にして、評価試験作業の容易化と迅速化とを図ったコイル部品及びコイル部品の評価方法を提供する。 - 特許庁

Therefore, compared with a conventional method in which voltage drop is performed according to the external power source voltage Vcc through wiring resistance R1-Rn, newly provided internal voltage Vi of power source wiring L1-Ln can be dropped in a short time so that the test time is shortened.例文帳に追加

したがって、配線抵抗Ｒ１〜Ｒｎを介して外部電源電圧Ｖｃｃに従って降圧させていた従来に比べ、電源配線Ｌ１〜Ｌｎの内部電圧Ｖｉを短時間で降圧でき、テスト時間が短くて済む。 - 特許庁

The method for processing the computer graphics data to reduce the external memory access time in the perfragment unit includes a step for executing a depth test with respect to a present fragment of the computer graphics data using the perfragment unit, and a step for pre-fetching a color value of the present fragment from the external memory unit to a cache memory while the depth test of the present fragment is executed.例文帳に追加

パーフラグメントユニット（ＰｅｒＦｒａｇｍｅｎｔ ｕｎｉｔ）の外部メモリアクセス時間を短縮するためのコンピュータグラフィックスデータの処理方法であって、前記コンピュータグラフィックスデータの現在のフラグメントに対する深さ（ｄｅｐｔｈ）テストを前記パーフラグメントユニットを用いて実行する段階と、前記現在のフラグメントに対する前記深さテストが実行される間、前記現在のフラグメントのカラー値を外部メモリ装置からキャッシュメモリにプリフェッチする段階とを有する。 - 特許庁

To provide a verification program, apparatus and method capable of surely verifying design of wiring for electrically connecting a test head body to a plurality of connection terminals to which the plurality of external terminals of an electronic component to be tested are connected.例文帳に追加

テストヘッド本体と、被試験電子部品の複数の外部端子が接続される複数の接続端子とを電気的に接続する配線の設計を確実に検証することのできる検証プログラム、検証装置及び検証方法を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspecting device of chaind and an appearance inspecting method using it, while extracting external defect and surface defect correctly, and detecting faulty defect with a high degree of accuracy and attempting to miniaturize well the dimensions against a test object.例文帳に追加

外形不良及び表面不良を正確に抽出し、欠陥不良を高精度に検出するとともに、被検査物の大きさに対して十分に小型化を図ったチェーンの外観検査装置及びそれを用いた外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an analysis method feasible by use of a general-purpose computer software and hardware without depending on a simulation test or requiring any expensive investment for analyzing an internal temperature distribution and a stress distribution to an external pressure in a cell structure.例文帳に追加

模擬の試験によらないで、高額な投資を伴うことなく、汎用のコンピュータソフトウエア及びハードウエアの利用によって、実現することが可能な、セル構造体の内部温度分布乃至外部圧力に対する応力分布の解析手段を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which an increase of a chip area is restricted, failure of a depression type MOS transistor for output of a step-down circuit is prevented, and is capable of realizing an operation lower limit test of an internal circuit that operates by voltage lower than operating voltage of an external interface circuit, and a method of testing thereof.例文帳に追加

チップ面積の増加を抑え、また降圧回路の出力用デプレッション型ＭＯＳトランジスタの破壊を防ぎ、外部インタフェース回路の動作電圧より低い電圧で動作する内部回路の動作下限テストを実現することができる半導体装置、およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for calculating display characteristics correction data for an image display apparatus, capable of calculating correct correction data at all times, even when abnormality data are captured as photographing data due to changes in the external light or blocking-off of photographing by an obstacle in the case of photographing a test pattern.例文帳に追加

テストパターンの撮影時に外光が変化したり障害物で撮影が遮られて撮影データに異常なデータが取り込まれたりした場合でも、常に正しい補正データを算出できる画像表示装置の表示特性補正データ算出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scenario generation device, program, and scenario generation method for generating a test scenario for testing about wheter or not a tested device normally operates even when the tested device operates based on not only a manual operation but also an external signal.例文帳に追加

テスト被対象装置が人手の操作だけではなく外部信号に基づいて動作する場合であっても、そのテスト被対象装置が正常に動作するか否かについてテストするテストシナリオを生成することができるシナリオ生成装置、プログラム及びシナリオ生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an embossed carrier tape, and a manufacturing method thereof in which an electronic parts stored in a storage part of the embossed carrier tape is not polluted by pollutant in the external environment, dust is not generated inside the storage part, and the continuity performance test of the electronic parts can be carried out from the outside thereof.例文帳に追加

エンボスキャリアテープの収納部に収納された電子部品が外環境の汚染物質によって汚染されず、収納部内部に粉塵などを発生させることがなく、外部から前記電子部品の導通性能試験を行うことができるエンボスキャリアテープ及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To obtain a composite semiconductor integrated circuit device and its connection testing method which does not need any additional circuits inside LSIs, is consequentially capable of using existing LSI chips, suppresses increase in the number of external terminals (number of device pins) to a minimum, and dramatically improves a test function.例文帳に追加

ＬＳＩ内部に何ら付加的回路を必要とせず、したがって、既存のＬＳＩチップを用いることが可能であるとともに、外部端子数（デバイスピン数）の増加も最小限に抑えて、テスト機能を飛躍的に向上させた複合半導体集積回路装置、並びに、その接続試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which defines an area for making a test probeto abut on an electrode pad, bonds an external electrode away from an area where a probe mark of the electrode pad is left, elevates the reliability of bonding, and enables high integration by expanding a location area of wiring on a circuit under the electrode pad, and to provide its inspection method and its manufacturing method.例文帳に追加

電極パッドに対してテストプローブを当接させる領域を定義し、電極パッドのプローブ痕が生じる領域を避けて外部電極をボンディングし、ボンディング信頼性を高めるとともに、電極パッドの下部の回路での配線の配設領域を拡大して高集積化を実現することを可能にした半導体装置とその検査方法及び製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can be improved in degree of integration through a method wherein a region of an electrode pad on which a test probe is made to abut is defined, an external electrode is bonded to an electrode pad avoiding its region where a probe mark is liable to be printed so as to improve bonding reliability, and a wiring providing region is expanded in a circuit under the electrode pad.例文帳に追加

電極パッドに対してテストプローブを当接させる領域を定義し、電極パッドのプローブ痕が生じる領域を避けて外部電極をボンディングし、ボンディング信頼性を高めるとともに、電極パッドの下部の回路での配線の配設領域を拡大して高集積化を実現することを可能にした半導体装置を提供する。 - 特許庁

There are provided the discrimination method for discriminating an ingredient having a cell-activating action, including lowering the cell differentiation growth ability of a skin cell, adding a test substance, measuring the cell differentiation growth ability of the skin cell, using the measurement value as an index, and then discriminating the cell differentiation growth ability of the skin cell; the cell activator selected from the discrimination method; and the external preparation for the skin, containing the ingredient.例文帳に追加

本発明によれば、皮膚細胞の細胞分化増殖能を低下させ、被験物質を添加し、その後に皮膚細胞の細胞分化増殖能を測定し、当該測定値を指標とし、細胞賦活作用を有する成分を判別する鑑別方法、更には、当該鑑別方法により選択される細胞賦活剤、並びに、かかる成分を含有する皮膚外用剤を提供することにより本課題を解決する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which has a plurality of signal batch latching means for latching external signal groups en bloc and supplying them to a prescribed internal circuit section as an internal signal group and in which yield can be improved even when dispersion in manufacturing is large, change of specification for a customer can be addressed with a low cost and in a short period, and to provide its test method.例文帳に追加

外部信号群を一括ラッチし内部信号群として所定の内部回路部に供給する複数信号一括ラッチ手段を有する半導体装置であって、製造上のばらつきが大きい場合にも歩留を向上させことができ、且つ顧客仕様変更にも低コスト且つ短期間で対応することができる半導体装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.例文帳に追加

ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁