high- temperature testとは 意味・読み方・使い方

METHOD OF PURIFYING TEST BODY OR THE LIKE IN HIGH TEMPERATURE HIGH PRESSURE LOOP, AND APPARATUS FOR THE SAME例文帳に追加

高温高圧ループにおける試験体等の純化方法及びその装置 - 特許庁

To provide a liquid crystal film which does not cause appearance abnormality such as crack on a liquid crystal alignment layer even in a severe environmental test such as a cycle test between a high-temperature test and a high-temperature/high-humidity test.例文帳に追加

高温試験と高温高湿試験とのサイクル試験のような厳しい環境試験においても、液晶配向層にクラックなどの外観異常を発生させない液晶フィルムを提供する。 - 特許庁

To properly perform quality discrimination of a semiconductor device such that a test is performed in order of high temperature test and room temperature test.例文帳に追加

高温試験、常温試験の順に試験が行われる半導体装置の品質判別を適正に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a high- and low-temperature test device capable of efficiently performing temperature testing on an object to be temperature-tested.例文帳に追加

効率的に温度試験対象物の温度試験ができる高低温度試験装置を提供する。 - 特許庁

A high-temperature corrosion testing device 1 includes a test-piece temperature adjusting means 5 of adjusting the temperature of a test piece S to lower than the temperature of an adjusting gas G.例文帳に追加

高温腐食試験装置1は、試験片Sの温度を調整ガスGの温度よりも低いものとする試験片温度調節手段5を備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for a temperature test having suitable controllability and operability for a temperature needed from a normal temperature to a high temperature region, which is small-sized and low-priced in the temperature test.例文帳に追加

温度試験において、必要な常温から高温領域の温度を制御性および操作性がよく、小型で安価な温度試験用半導体装置を提供する。 - 特許庁

HIGH-TEMPERATURE FATIGUE TEST METHOD CAPABLE OF ACCURATE TEMPERATURE CONTROL AND MEASUREMENT USING SMALL-SIZED FURNACE例文帳に追加

小型加熱炉を用いた正確な温度制御と測定が可能な高温疲労試験法 - 特許庁

To provide an apparatus for raising/lowering a temperature which raises or lowers the temperature of numerous semiconductor devices at a time in a handler for performing high temperature test and low temperature test to realize high-speed processing as the whole apparatus, and also to provide the high and low temperature test handler.例文帳に追加

高温テスト及び低温テストを実施するハンドラにおいて、一度に大量の半導体装置の高温化又は低温化を可能とし、装置全体としての高速処理を実現した高低温化装置及び高低温テストハンドラを提供する。 - 特許庁