internal reflection methodとは 意味・読み方・使い方

To provide a total internal reflection(TIR) holography system device, its method and an optical instrument used in the TIR holography device.例文帳に追加

全反射（ＴＩＲ）ホログラフィシステム装置とその方法、及びＴＩＲホログラフィ装置に用いられる光学器を提供する。 - 特許庁

To provide a method for discriminating a reflection echo from an artificial flaw in ultrasonic flaw detection which can discriminate whether a reflection echo from each of an external artificial flaw and an internal artificial flaw formed on a pipe so that their positions in a pipe axis direction are mutually the same is an external flaw reflection echo or an internal flaw reflection echo.例文帳に追加

管軸方向の位置が互いに同一であるように管に設けられた外面人工きず及び内面人工きずからのそれぞれの反射エコーが外面きず反射エコーであるか内面きず反射エコーであるかを弁別することができる超音波探傷における人工きずからの反射エコーの弁別方法を提供する。 - 特許庁

To provide a flexible optical waveguide having an internal reflection structure which is easily and precisely manufactured and to provide a method of manufacturing the flexible optical waveguide.例文帳に追加

容易に且つ精度良く製造可能な内部反射構造を備えるフレキシブル光導波路及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for measuring internal quantum efficiency, with which the reflection factor and external quantum efficiency can be exactly provided in the case of irradiating with the same light.例文帳に追加

同一の光が照射された場合の反射率と外部量子効率とを正確に得ることができる内部量子効率測定装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for enabling application of TIR (total internal reflection) holography to a large high-resolution pattern whose dimensions are larger than those obtainable in the original chromium mask.例文帳に追加

元のクロムマスク内で取得される寸法よりも寸法がより大きい高解像度パターンに対して、ＴＩＲホログラフィを利用できる方法及び装置を提示する。 - 特許庁

To provide a surface state measuring method and an instrument capable of minimizing a noise of an absorbance spectrum caused by an interference fringe included in multiple internal reflected light inside a substrate, in measurement of the surface state of the substrate by an infrared multiple internal reflection method.例文帳に追加

赤外多重内部反射法による基板の表面状態の測定において、基板内部における多重内部反射光に含まれる干渉縞に起因する吸光度スペクトルのノイズを極小化することのできる表面状態測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method by a dicing apparatus capable of various types of inspections, such as a kerf inspection, using internal reflection from illumination light occurring within a transparent or semi-transparent wafer.例文帳に追加

透明・半透明なウェーハの内部で発生する照明光の内部反射を利用して、カーフチェック等の多種の検査を実施することができるダイシング装置による検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for detecting chemical substances and identifying and determining the chemical substances by an infrared multiple internal reflection method capable of easily and highly accurately detecting the chemical substances at low costs.例文帳に追加

赤外線多重内部反射法により化学物質の同定及びその定量化を行う化学物質検出方法及び装置に関し、化学物質を、簡便に、高精度で、且つ、低コストで検知しうる化学物質検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁