「internal reflection method」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an optical connector in which an optical path is changed by an internal reflection method and an internal reflecting surface is easily formed.例文帳に追加

内部反射方式で光路変換をする光コネクタにおいて、内部反射面を形成することが容易な光コネクタを提供する。 - 特許庁

To provide a chemical material detector compactly composed, and using a multiple internal reflection method.例文帳に追加

小型に構成可能な多重内部反射法を用いた化学物質検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a total internal reflection(TIR) holography system device, its method and an optical instrument used in the TIR holography device.例文帳に追加

全反射（ＴＩＲ）ホログラフィシステム装置とその方法、及びＴＩＲホログラフィ装置に用いられる光学器を提供する。 - 特許庁

To provide a method for discriminating a reflection echo from an artificial flaw in ultrasonic flaw detection which can discriminate whether a reflection echo from each of an external artificial flaw and an internal artificial flaw formed on a pipe so that their positions in a pipe axis direction are mutually the same is an external flaw reflection echo or an internal flaw reflection echo.例文帳に追加

管軸方向の位置が互いに同一であるように管に設けられた外面人工きず及び内面人工きずからのそれぞれの反射エコーが外面きず反射エコーであるか内面きず反射エコーであるかを弁別することができる超音波探傷における人工きずからの反射エコーの弁別方法を提供する。 - 特許庁

To provide a flexible optical waveguide having an internal reflection structure which is easily and precisely manufactured and to provide a method of manufacturing the flexible optical waveguide.例文帳に追加

容易に且つ精度良く製造可能な内部反射構造を備えるフレキシブル光導波路及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for measuring internal quantum efficiency, with which the reflection factor and external quantum efficiency can be exactly provided in the case of irradiating with the same light.例文帳に追加

同一の光が照射された場合の反射率と外部量子効率とを正確に得ることができる内部量子効率測定装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for enabling application of TIR (total internal reflection) holography to a large high-resolution pattern whose dimensions are larger than those obtainable in the original chromium mask.例文帳に追加

元のクロムマスク内で取得される寸法よりも寸法がより大きい高解像度パターンに対して、ＴＩＲホログラフィを利用できる方法及び装置を提示する。 - 特許庁

To provide a surface state measuring method and an instrument capable of minimizing a noise of an absorbance spectrum caused by an interference fringe included in multiple internal reflected light inside a substrate, in measurement of the surface state of the substrate by an infrared multiple internal reflection method.例文帳に追加

赤外多重内部反射法による基板の表面状態の測定において、基板内部における多重内部反射光に含まれる干渉縞に起因する吸光度スペクトルのノイズを極小化することのできる表面状態測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method by a dicing apparatus capable of various types of inspections, such as a kerf inspection, using internal reflection from illumination light occurring within a transparent or semi-transparent wafer.例文帳に追加

透明・半透明なウェーハの内部で発生する照明光の内部反射を利用して、カーフチェック等の多種の検査を実施することができるダイシング装置による検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for detecting chemical substances and identifying and determining the chemical substances by an infrared multiple internal reflection method capable of easily and highly accurately detecting the chemical substances at low costs.例文帳に追加

赤外線多重内部反射法により化学物質の同定及びその定量化を行う化学物質検出方法及び装置に関し、化学物質を、簡便に、高精度で、且つ、低コストで検知しうる化学物質検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface condition measuring method and apparatus for measuring the surface condition of a substrate to be measured using infrared multiple internal reflection method, whereby the determining accuracy can be enhanced by accurately detecting at an optimum position infrared rays emitted from the interior of the substrate.例文帳に追加

赤外多重内部反射法により被測定基板の表面状態を測定する表面状態測定方法及び装置に関し、基板内部より放出される赤外線を最適な位置で正確に検出し定量精度を向上しうる表面状態測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor element, a semiconductor device, a semiconductor wafer, and a method of growing semiconductor crystal such that warpage of a substrate is suppressed and an influence of interface reflection is reduced to achieve high light extraction efficiency and high internal light emission efficiency.例文帳に追加

本発明は、基板の反りを抑制し、界面反射の影響を低減して高光取り出し効率と高内部発光効率とを実現できる半導体素子、半導体装置、半導体ウェーハ及び半導体結晶の成長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for measuring a surface state that can improve determination accuracy while eliminating the influence of an interference fringe by intercepting infrared rays unnecessary for measurement, and carrying out the incidence of the infrared rays to a substrate at an optimum angle in measuring the surface state by an infrared multiple internal reflection method.例文帳に追加

赤外多重内部反射法による表面状態の測定において、測定に不要な赤外線を遮断して基板内部に最適な角度で赤外線を入射し、干渉縞の影響を排除するとともに、定量精度を向上することができる表面状態測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In this method or device, light 202 emitted by a remote light source 100 is maintained within a front light plate 200 by total internal reflection until the light 202 contacts a surfaces 204, from which the light is reflected through a substrate 300 and into elements 310.例文帳に追加

本方法及び装置は、遠隔光源１００により放射された光２０２は、光２０２が表面２０４に接触するまで、内部の全反射により前面光プレート２００の内部に保持され、その表面から光が基板３００を抜けそして素子３１０の中に向け反射される。 - 特許庁

To provide a light emitting element package which maximizes light extraction efficiency by allowing light emitted from side surfaces of a chip to be emitted toward an upper part through internal reflection, which realizes light having uniform color quality by a phosphor layer uniformly formed on the upper part of the chip, and to provide a manufacturing method of the light emitting element package.例文帳に追加

チップの側面から放出される光を内部反射によって上部に放出できるようにして光抽出効率を極大化し、均一に形成されたチップの上部の蛍光体層によって均一な色品質の光を具現することができる発光素子パッケージ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an on-the-spot measuring method and an on-the-spot measuring apparatus of ion concentration in solution that can measure the spot in a true meaning when measuring the absorbance of solution using the principles of frustrated internal reflection method, and can accurately measure absorbance even if the ion concentration in the solution is higher or insoluble particles and bubbles are present in the solution.例文帳に追加

減衰全内反射法の原理を用いて溶液の吸光度を測定するに際して、真の意味でのその場測定を行うことができ、しかも装置の小型化を図ることができ、溶液中のイオン濃度が高い場合や、溶液中に不溶解粒子や気泡が存在しても正確な吸光度測定を行うことができる溶液中のイオン濃度のその場測定方法および装置を提供する。 - 特許庁

When photographing an object of a high gloss component with the image acquisition method, the object is photographed while settling an internal reflection component representing its color within a range of the camera, and a gloss component (high-luminance area) that can not be settled within the range, is estimated from inter-band correlation from another band whose gloss component is settled within the range, thereby acquiring the high dynamic range image.例文帳に追加

画像の取得方法において、光沢成分の強い物体を撮影する際、物体の色を表す内部反射成分をカメラのレンジ内に収めて撮影し、レンジに収まらない光沢成分（高輝度領域）は、光沢成分をレンジ内に収めた他のバンドから、バンド間相関を用いて推定することにより、高ダイナミックレンジ画像を取得することを特徴とする。 - 特許庁