layout inspectionとは 意味・読み方・使い方

CHARGED PARTICLE BEAM-DRAWING DEVICE, PATTERN INSPECTION DEVICE AND LAYOUT DISPLAYING METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置およびパターン検査装置並びにレイアウト表示方法 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of easily coping with even the layout change in an assembly line by increasing the inspection efficiency.例文帳に追加

検査の効率を上げ、組立ラインのレイアウト変更にも容易に対応できる検査装置を提供する。 - 特許庁

To realize a layout verifying device capable of automatically verifying and displaying the arrangement situation of a layout element in which a pair property is required, reducing the inspection time and preventing an inspection omission.例文帳に追加

ペア性が要求されるレイアウト素子の配置状況を自動的に検証して表示することができ、検査時間を削減し、検査漏れを防止することができるレイアウト検証装置の実現を課題とする。 - 特許庁

Defects information is added with an image at the time of inspection, and then is corrected for an amount of positional deviation between image information and layout information.例文帳に追加

また、欠陥情報に検査時の画像を付加し、画像情報と設計情報との位置ずれ量で補正する。 - 特許庁

Concerning the wiring, with which the space width or metal punch area does not satisfy the specifications in inspection, the layout thereof is corrected so that the specifications can be satisfied.例文帳に追加

検査においてスペース幅又はメタル抜き面積が規定を満たさなかった配線に対しては、該規定を満たすようにそのレイアウトを修正する。 - 特許庁

To set an image inspection system by flexibly changing an image layout in response to the length of a character string.例文帳に追加

文字列の長さに応じて柔軟に画像レイアウトを変更して画像検査システムの設定を行う。 - 特許庁

To provide a method for verifying optical proximity effect correction using a layout-to-layout inspection method that enables accurate and precise inspection of differences between an original design of a semiconductor device and a revised design of the semiconductor device and verification of accuracy of the optical proximity effect correction by considering exposure conditions.例文帳に追加

露光条件を考慮することで、半導体の原デザインと半導体の修正デザインとの間の差異点及び光学近接効果補正の正確度を正確かつ精密に検査できるレイアウト対レイアウト検査方法を用いた光学近接効果補正の検証方法を提供する。 - 特許庁

This system includes a function for easily forming and altering the internal layout drawing of an inspection chamber on the system screens of the operation parts and includes a function for arranging the prepared parts of the operation parts of respective analyzers at the same positions as the present installation places of the operation parts of the respective analyzers, and forming and altering the screen of the layout drawing equal to the present layout drawing in the inspection chamber.例文帳に追加

本発明は、操作部のシステム画面に、検査室内のレイアウト図を容易に作成・変更する機能を備え、用意された各分析装置・操作部のパーツを、現在の各分析装置・操作部の設置場所と同位置に配置していき現在の検査室内と同等のレイアウト図画面を作成・変更していく機能を有することを特徴とする。 - 特許庁