packaging testとは 意味・読み方・使い方

The test terminals 2 are used only when a wafer is tested and serve as chip terminals which are not brought into contact when packaging is carried out.例文帳に追加

テスト用端子は、ウェハテスト時のみ使用され、パッケージングの際コンタクトされないチップ端子である。 - 特許庁

Angle dispersive X-ray diffraction is used to test pharmaceutical products including the dosage form inside packaging, for example the tablet inside a blister pack, without removing the dosage form from the packaging.例文帳に追加

パッケージング内の剤形、たとえばブリスターパック内の錠剤を含む医薬製品を、剤形をパッケージングから取り出すことなく試験するために角度分散X線回折が使用される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device such that a defect detection test can be conducted even in a product state after a packaging process.例文帳に追加

パッケージング工程後の製品状態においても欠陥検出試験を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The interior of a bag packaging the test piece is vacuum-sucked, or an oxygen absorbent is put in the bag and the packaged bag is sealed.例文帳に追加

試験片を包装した袋の内部を真空吸引して、或いは、この袋内に酸素吸収剤を入れて包装袋を密閉する。 - 特許庁

To provide a vinyl chloride resin composition which has a small amount of an n-heptane extract prescribed by the food hygiene test (Test 1982 Notification No.20 of the Ministry of Health and Welfare) and is suitably used as a food packaging film.例文帳に追加

食品衛生試験（昭和５７年厚生省告示第２０号試験）に定めるｎ−ヘプタン抽出量が少なく、食品包装フィルム用として好適な塩化ビニル樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

In this inspecting method, by comparing the inspection data in the wafer test written in the ROM areas of the chips with the inspection data in the screening test, it is possible to inspect the characteristic degradation of the chips due to packaging.例文帳に追加

この検査方法では、チップのＲＯＭ領域に書き込んだウェハテストの検査データと、選別テストの検査データとを比較することで、パッケージングによるチップの特性劣化を検査することが可能になる。 - 特許庁

To provide a package structure equipped with a protective film which protects a silicon chip from damages and improves the packaging performance and life-cycle in a reliability test.例文帳に追加

ダメージからシリコンチップを保護し、信頼性テストにおけるパッケージング性能およびライフサイクルを向上させる保護膜を備えたパッケージ構造体を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device, having a built-in terminal for test that can easily evaluate the operation condition of a semiconductor device unit on a packaging substrate.例文帳に追加

容易に実装基板上での半導体装置単体の動作状況について評価することができる試験用端子内蔵半導体装置を得る。 - 特許庁