quantitative surface analysisとは 意味・読み方・使い方

The quantitative analysis can be carried out using particulate matters as the sampling agent having the surface area of 5-50 m2/g and being made of heat-resistant resin, carbon black or their mixture.例文帳に追加

捕集剤として表面積が５〜５０ｍ^２／ｇの粒子状の耐熱性樹脂又はカーボンブラック又はそれらの混合物を用いることで定量分析が可能になる。 - 特許庁

An quantitative information calculated from the fluorescence X-ray intensity is corrected based on the curvature 1/R or radius R of the surface of an analysis target 20 in a control part 11C.例文帳に追加

制御部１１Ｃで、分析対象２０の表面の曲率１／Ｒまたは半径Ｒに基づいて、蛍光Ｘ線強度から算出される量的情報を補正する。 - 特許庁

To provide an efficient and highly accurate quantitative analysis method to a mixed liquid of nitric acid, phosphoric acid, and acetic acid and a mixed liquid containing an additive such as a surface active agent.例文帳に追加

硝酸とリン酸と酢酸とから成る混酸液や更に界面活性剤などの添加剤を含む混酸液に対する、効率的で且つ精度の高い定量分析方法を提供する。 - 特許庁

Data processing such as quantitative correction calculation by an ROI (Region Of Interest) integrated value and fitting is performed based on the spectrum, and surface distribution of the analysis parameter such as determined X-ray intensity and composition information is displayed.例文帳に追加

そのスペクトルに基づいてＲＯＩ 積算値やフィッティングによる定量補正計算等のデータ処理を行ない、求められたＸ線強度や組成情報等の分析パラメータの面分布を表示する。 - 特許庁

To provide a device for performing quantitative and qualitative analysis of chemical components or physical properties, at a proximity of a distance of several mm or shorter from the surface by using a relatively normal light source, a normal light-receiving element, and a simple condensing means.例文帳に追加

比較的普通の光源及び普通の受光素子と簡単な集光手段で表面から数ｍｍ以内の近傍の化学成分あるいは物性の定量、定性分析を行う。 - 特許庁

To provide an infrared microscopic FT-IR device and an analyzing method capable of performing qualitative/quantitative analysis, conveniently and accurately, on an organic material for the surface part of a high-density recording medium.例文帳に追加

高密度記録媒体の表面部の有機材料について定性・定量分析を簡便・的確に行うことができる赤外顕微・ＦＴ−ＩＲ装置及び分析方法を提供する。 - 特許庁

In this Sn-contg. copper alloy material, the Sn3d/Cu2p ratio in the peak area ratio of the quantitative analysis in the case the surface is measured by X-ray photoelectron spectroscopy is controlled to ≤0.3.例文帳に追加

Ｓｎ含有銅合金材料において、その表面をＸ線光電子分光法によって測定したときの定量分析のピ−クエリア面積比のＳｎ３ｄ／Ｃｕ２ｐ比が０．３以下となるようにする。 - 特許庁

To provide an analytical device for an electronic substrate and an analytical method for the electronic substrate capable of executing, simply and accurately, quantitative analysis of a target element in pollutant adhering to the surface of the electronic substrate.例文帳に追加

簡便にかつ精度良く、電子基板の表面に付着した汚染物質中における目的元素の定量分析を行うことが可能な電子基板用分析装置及び電子基板用分析方法を提供する。 - 特許庁