store testとは 意味・読み方・使い方

An operator uses the personal computer to create and store a macro program for processing by a previously set amount of test pieces prior to the test.例文帳に追加

作業者は、試験に先立って、パーソナルコンピュータを使用して、予め設定した数量の試験片ごとに処理するマクロプログラムを作成して記憶する。 - 特許庁

A passing module information storing means 105 associates a module where processing passes when a test of a plurality of test items is executed for the uncorrected source code with the test items to store the module.例文帳に追加

通過モジュール情報記憶手段１０５は、修正前のソースコードに対して複数のテスト項目のテストを実行した際に処理が通過するモジュールを、テスト項目と対応付けて記憶する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor memory tester which can store and display the information of a plurality of test results at low cost.例文帳に追加

複数の試験結果の情報を記憶及び表示可能な低コストの半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

Then, the results of the determination by the test result determination means 1c are correlated with the hash values 7 transmitted from the server 3 for testing by a test result recording means 1e to store them, as the test execution log 1g, in a test execution log storage means 1f.例文帳に追加

そして、テスト結果記録手段１ｅにより、テスト結果判定手段１ｃによる判定結果とテスト用サーバ３から送信されたハッシュ値７とが関連づけられ、テスト実施ログ１ｇとしてテスト実施ログ記憶手段１ｆに格納される。 - 特許庁

To solve such a problem that in a test of a semiconductor memory, as a chip itself does not store nature of the chip, in order to perform analysis of a defective product by a wafer test after assembling, a test corresponding to the wafer test must be performed again and a defective product must be selected.例文帳に追加

半導体記憶装置の検査において、チップの素性をチップ自身は記憶していないので、ウエハ検査不良品の解析を組み立て後に行うためには再度、ウエハ検査相当の検査を実施して不良品を選別しなければならない。 - 特許庁

The circuit is provided with a plurality of memories 10a to 10n which can store data, a built-in self-test circuit 20 performing tests of a plurality of memories, and an analyzing circuit 30 analyzing a test result of the built-in self-test circuit.例文帳に追加

データを記憶可能な複数のメモリ１０ａ〜１０ｎと、複数のメモリのテストを行う組込自己テスト回路２０と、組込自己テスト回路のテスト結果を解析する解析回路３０と、を備えている。 - 特許庁

To store an output pattern of a device under test in the main memory, without increasing the band width request for the main memory by a testing apparatus.例文帳に追加

試験装置のメインメモリの要求バンド幅を増やすことなく、被試験デバイスの出力パターンをメインメモリに格納する。 - 特許庁

A flip flop 21 is provided to store a test data output from the circuit 2 toward the bidirectional terminal.例文帳に追加

組み合わせ回路２から双方向端子に向けて出力されるテストデータを記憶するフリップフロップ２１が設けられている。 - 特許庁