surface roughness measurementとは 意味・読み方・使い方

To provide a surface roughness measuring instrument capable of performing continuous automatic surface roughness measurement of a plurality of wafers, thereby improving measurement efficiency.例文帳に追加

本発明は、複数枚のウエハの表面粗さの測定を連続で自動的に行うことができ、測定効率を向上させることができる表面粗さ測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Average surface roughness Ra of the surface of the substrate 81 side on which the dielectric films are provided is made equal to or less than 0.50 nm when the roughness is obtained by measuring a plurality of measurement points having measurement distances equal to or less than 100 nm.例文帳に追加

光学基板８１の誘電体膜を設ける側の表面を測定点間距離が１００ｎｍ以下の複数の測定点を測定することにより得られた平均表面粗さＲａが０．５０ｎｍ以下であることを特徴とする。 - 特許庁

The method for obtaining the roughness of the substrate and the device for obtaining the roughness of the substrate include: a first step of obtaining design information on the patterns formed on the substrate; and a second step of obtaining a surface roughness measurement region where the surface roughness of the substrate can be obtained by using the design information.例文帳に追加

基板に形成されたパターンに関する設計情報を得る第１のステップと、前記設計情報を用いて、前記基板の表面粗さを得ることができる表面粗さ測定領域を得る第２のステップとを有する基板の粗さを得る方法、及び基板の粗さを得るための装置である。 - 特許庁

A photoreceptor support subjected to surface treatment by bite processing in which surface roughness Rz obtained by actual measurement or surface roughness Z obtained by calculation is a predetermined value, is used.例文帳に追加

実測による表面粗さＲｚ又は計算上の表面粗さＺを所定値とするバイト加工による表面処理を行った感光体用支持体を用いる。 - 特許庁

To provide a surface roughness evaluating method for sensitively and accurately comprehending a local change or variation of a surface to be measured, in surface roughness measurement of a component for an image forming device such as a base substance for an electrophotography photoreceptor.例文帳に追加

電子写真感光体用基体等の画像形成装置用部品の表面粗さの測定において、測定対象面の局所的な変化や変異を感度良くかつ正確に把握可能にすること表面粗さ評価方法を提供する。 - 特許庁

The step for calculating the skewness calculates the skewness for indicating a deviation of surface roughness data of the work in the height direction from a surface roughness measurement result of the ultrasonic-bonded work.例文帳に追加

スキューネスを算出する段階は、超音波接合されるワークの表面粗さ測定結果から、ワークの表面粗さデータの高さ方向における偏り度合いを示すスキューネスを算出する。 - 特許庁

In a glass substrate for an information recording medium, variability of surface roughness (Ra), which is calculated from measurement results of surface roughness (Ra) obtained from 10 or more fields of 10 μm square using an atomic force microscope, is less than 3%.例文帳に追加

情報記録媒体用ガラス基板は、原子間力顕微鏡を使用して、表面粗さ（Ｒａ）を１０μｍ四方の視野で１０視野以上測定した測定結果より算出される表面粗さ（Ｒａ）のばらつき率は、３％以下である。 - 特許庁

To inexpensively provide a measurement condition setting device capable of easily setting a condition for measuring a surface roughness state.例文帳に追加

表面粗さ形状測定の測定条件が容易に設定できる測定条件設定装置を安価に提供する。 - 特許庁