surface roughness measurementとは 意味・読み方・使い方

To provide a surface roughness measuring instrument capable of performing continuous automatic surface roughness measurement of a plurality of wafers, thereby improving measurement efficiency.例文帳に追加

本発明は、複数枚のウエハの表面粗さの測定を連続で自動的に行うことができ、測定効率を向上させることができる表面粗さ測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a surface tracking type measuring instrument which can have its measurement range expanded while maintaining a measuring force, response, and resolution permitting surface roughness measurement.例文帳に追加

表面粗さ測定が可能な測定力、応答性、分解能を維持しつつ、測定範囲を拡大することができる表面追従型測定機を提供する。 - 特許庁

The step for calculating the skewness calculates the skewness for indicating a deviation of surface roughness data of the work in the height direction from a surface roughness measurement result of the ultrasonic-bonded work.例文帳に追加

スキューネスを算出する段階は、超音波接合されるワークの表面粗さ測定結果から、ワークの表面粗さデータの高さ方向における偏り度合いを示すスキューネスを算出する。 - 特許庁

The evaluation value of the surface roughness is obtained by setting a plurality of points for measurement on the surface of the inner wall and adding absolute values of the amount of inclination on the surface of the inner wall at the respective points for measurement by prescribed region.例文帳に追加

面粗さの評価値は、内壁部表面に複数の測定点を設定し、各測定点における内壁部表面の傾き量の絶対値を所定領域ごとに加算した値とする。 - 特許庁

To inexpensively provide a measurement condition setting device capable of easily setting a condition for measuring a surface roughness state.例文帳に追加

表面粗さ形状測定の測定条件が容易に設定できる測定条件設定装置を安価に提供する。 - 特許庁

A light-diffusing layer 2 having a rough surface having ≥2.0 μm arithmetic average roughness and/or ≥10.0 μm ten point average roughness obtained by the three-dimensional surface roughness measurement is laminated on a transparent supporting body 3.例文帳に追加

３次元表面粗さ測定における算術平均粗さが２．０μｍ以上又は／及び十点平均粗さが１０．０μｍ以上であることを特徴とする凹凸表面を有する光拡散層２を透明支持体３上に積層する。 - 特許庁

Average surface roughness Ra of the surface of the substrate 81 side on which the dielectric films are provided is made equal to or less than 0.50 nm when the roughness is obtained by measuring a plurality of measurement points having measurement distances equal to or less than 100 nm.例文帳に追加

光学基板８１の誘電体膜を設ける側の表面を測定点間距離が１００ｎｍ以下の複数の測定点を測定することにより得られた平均表面粗さＲａが０．５０ｎｍ以下であることを特徴とする。 - 特許庁

The light-emitting surface 21b of the light-diffusing plate 21 has a surface roughness, in a range where glossiness in the measurement of the light-emitting surface 21b at 60° is 70% or higher, and 110% or lower.例文帳に追加

光拡散板２１の光出射面２１ｂが、該光出射面２１ｂの６０°測定における光沢度が７０%以上１１０%以下の範囲の面粗さを有する。 - 特許庁